中古 JEOL JEM 2010F #9235270 を販売中

JEOL JEM 2010Fは、高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）であり、様々な用途において高度なイメージングおよび分析の要求に応えるために設計されています。先進的な光学系を備えたこの装置は、低加速電圧であっても、優れた焦点深度を持つ最高解像度の画像を提供するように設計されています。JEOL JEM-2010Fは、イメージング効率を最大化するための様々な技術を搭載しています。このコラムは、20mm偏向電子光学システムを使用して、ユニットローディングとスキャン歪みを低減し、比類のない解像度、コントラスト、画像の鮮明性を提供します。さらに、自動FEG制御、独自の信号検出/補正回路、ビーム線量を増加させる機能により、最も困難なサンプルでも最適化されたイメージングが可能です。JEM 2010Fは、EDXRFからEBSD/EPMAまで、さまざまな分析機能に対応する優れたハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントも組み込まれています。内蔵のEBSD/EPMAツールを使用することで、半導体やナノ材料など、さまざまな無機および有機材料の特性評価が可能になります。使いやすさに関しては、Easy Auto-Focus （EAF）機能により、顕微鏡を簡単かつ簡単に操作できます。EAFモードは、表面特性が不均一なサンプルの使用に最適です。アセットの安定性モニターは、試験片が一定の観察下に保たれていることを保証し、長期にわたって機器の信頼性の高い動作を可能にします。最先端の技術とユーザーフレンドリーな機能を組み合わせたJEM-2010Fスキャン電子顕微鏡は、幅広い科学および産業用途に理想的な機器です。このモデルは、最高レベルの画質と分析性能を提供することにより、最も要求の厳しいイメージング要件を超えるように設計されています。