中古 JEOL JEM 2010F #293590723 を販売中
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ID: 293590723
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Digital camera
Double tilt holder
EDX
EELS Detector
Field emission gun: 200 keV.
JEOL JEM 2010Fは、様々なサンプルの高解像度イメージングに使用される環境走査型電子顕微鏡(ESEM)です。この高度な装置は、20nmまでの生物学的および無機サンプルの優れた解像度の画像を生成することができます。この顕微鏡は可変圧力チャンバーを備えており、非導電材料のイメージングを可能にし、非導電試料の充電効果を最小限に抑えます。JEOL JEM-2010Fには、電界放射銃と高解像度のベリリウムベースのLaB6-type陰極が装備されています。電子ビームのエネルギーは調節可能であり、様々なサンプルタイプの最適なイメージングを可能にします。JEOL搭載のX線マイクロアナライザは、試料組成に関する原子レベルの情報を提供することができます。顕微鏡は、サンプルの位置とナビゲーションの精度を確保するための電動ナビゲーションシステムを含む完全に自動化されています。標準となる様々なレンズや絞りを使用することで、最適なコントラストと解像度を得ることができます。JEOLは、フォトミクログラフィー、生体サンプルイメージング、金属分析、セラミックおよび結晶微細構造、エンジニアリングセラミックサンプル分析および研究などの用途に最適です。JEM 2010Fメインステージには0〜50°Cの温度範囲があり、オプションの低温オプションで-160〜105°Cの範囲があり、幅広い選択肢のイメージングアプリケーションを提供します。低温学を用いた顕微鏡は冷凍サンプルのイメージングに適しており、組織学などの医療用途に最適です。JEM-2010Fは非常に強力で包括的なパッケージで、最も要求の厳しいイメージング要件にも対応できます。その幅広い能力は、研究、産業、医療分野の幅広い用途に適しています。
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