中古 JEOL JEM 2010 #9397253 を販売中

JEOL JEM 2010は、高分解能走査型電子顕微鏡（SEM）で、ナノスケール上の幅広い種類のサンプルの構造を解析する優れたイメージング機能を提供します。材料科学や工学、地質学、生物学などの分野での応用に最適です。JEOL JEM-2010は、分析研究のための強力なツールにする仕様と機能の範囲を提供しています。JEM 2010は、ギャップレスでフィラメンタリーではない電子ソースを利用して、最高のコントラストを持つ高品質で高解像度の画像を生成するフィールド放射SEMです。超高解像度の電界放射銃、高感度の逆散電子検出器、最大0。2nmスケールの詳細なナノスケール画像をキャプチャするオートフォーカスシステムを搭載しています。その超高分解能により、JEM-2010はサンプルの最外側の原子層の画像を提供することができます。JEOL JEM 2010では、強力なイメージング機能に加えて、X線分光法とエネルギー分散X線 （EDX）機能を提供し、サンプルの組成を解析します。X線検出器、波長分散分光計、エネルギー分散システムを搭載し、試料中の化学元素濃度の情報を検出します。JEOL JEM-2010では、回転可能なサンプルステージや自動傾きおよび回転ステージなど、さまざまな試料操作ツールも提供しています。これは、研究者が様々なサンプル条件を迅速かつ正確にテストするのに役立ちます。JEM 2010は、広範囲のサンプルサイズの分析に適した広い倍率範囲を有しています。最大倍率は300,000xで、最小出力は2MVです。また、3Dイメージング用の傾斜角度範囲は10〜90度、精密サンプル制御範囲は0。3nmです。これにより、サンプルが正確な測定のために電子ビームから常に正しい距離にあることが保証されます。JEM-2010は、-25°C〜+80°Cの最適な範囲で、低温から高温でのイメージングが可能です。また、ビーム電流、スポットサイズ、および調整可能な電子スペクトルフィルタを調整して、収集されたデータの汎用性を高めることができます。JEOL JEM 2010の高度なイメージング機能と幅広い機能により、ナノスケールの研究に理想的なツールとなります。