中古 JEOL JEM 2010 #9394893 を販売中

JEOL JEM 2010は、高電圧電子ビームを利用した走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、最大0。09nmの非常に高解像度の画像を400-500,000 Xの倍率範囲で提供することができます。JEOL JEM-2010は、その高感度と低ランニングコストで知られているため、研究および医療現場の両方でさまざまな用途に最適です。顕微鏡自体はいくつかのコンポーネントで構成されています。システムの中心には、電子源、銃器組立、試料ステージがあります。この電子源は、特別に設計された対物レンズを通して細かく集中した電子ビームを発射します。これらの電子は試料段階に向けられ、試料と相互作用して試料表面の拡大画像を作成します。JEM 2010には、さまざまなアプリケーションに使用できるさまざまな機能があります。高いコントラストと非常に良い解像度で画像を生成することができます。この顕微鏡は、転移可能な領域、ガリウムヒ素の障壁、非常に薄いフィルムなどの非常に小さな特徴のアライメントと測定にも使用できます。また、時間分解された画像をキャプチャする機能を備えており、表面現象のダイナミクスを研究するのに役立ちます。また、JEM-2010には内蔵のEDSシステムが搭載されており、X線検出器は軸上に取り付けられています。これにより、電子ビームがそれをスキャンする際のサンプル組成の組成分析が可能になり、法医学や医学研究にとって貴重な情報を提供することができます。全体として、JEOL JEM 2010は非常に強力な走査型電子顕微鏡で、幅広い機能を提供します。汎用性が高く、さまざまなアクセサリーやサンプルステージと互換性があり、さまざまなアプリケーションに最適です。