中古 JEOL JEM 2010 #9278784 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JEM 2010
ID: 9278784
ヴィンテージ: 1995
Transmission Electron Microscope (TEM) LaB6 Source Equipped with: IDE Active vibration system OXFORD 4Pi Horizontal EDS GATAN 830 Orius bottom mount camera JEOL Single tilt holder GATAN Double tilt holder High resolution pole piece in column Includes: Tools Spare parts Additional spare LaB6 Cathode No STEM Detector No EELS Power supply: 200 kV 1995 vintage.
JEOL JEM 2010は、研究室向けに強力なイメージング機能を提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。最大30kVの加速電圧を備えており、高解像度で詳細をキャプチャできます。さらに、JEOL JEM-2010は非常に広い視野を誇り、最大ズーム範囲は8,000xです。このように、この顕微鏡は小さな特徴のサンプルを拡大するのに特に役立ち、見た目の構造を詳細に調べることができます。この装置は、電界放射銃(FEG)の源によって駆動され、電子ビームスキャニングノイズを最小限に抑え、非常に高い倍率で非常に詳細な画像を提供します。これにより、サイズ、形状、組成などのフィーチャーの測定精度が向上します。さらに、この顕微鏡のエネルギー分散分光法(EDS)システムは、化学組成の定量分析を可能にします。JEM 2010は人間工学に基づいた作業スペースで設計されており、チャンバーとその補助部品の両方に簡単にアクセスできます。このワークフローを合理化する設計により、顕微鏡のスムーズで効率的な操作が可能になり、手動エラーによる部品損傷のリスクも低減します。さらに、その堅牢な設計は、長期的な安定性と信頼性に適しています。JEM-2010は、低温冷凍の必要性を排除する革新的な冷却システムと、長期欠陥のない観察のためのコンピュータ制御のアクティブな水素パージングシステムを備えています。結論として、JEOL JEM 2010は、研究室の仕事に不可欠な様々な機能と機能を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。広い倍率範囲と多数の制御システムにより、高精度なサンプルを正確かつ容易に分析することができます。
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