中古 JEOL JEM 2010 #9241415 を販売中

JEOL JEM 2010は、10 ×未満から10万×以上の倍率の範囲でサンプルの一貫したイメージングと分析のために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。それは迅速かつ正確に小さな生物学的および非生物学的標本の表面を見ることができます。JEOL JEM-2010には、エネルギー分散分光（EDS）装置が搭載されており、サンプルの元素組成を解析することができます。この機能により、顕微鏡サンプルに存在する化学種の定量分析が可能になります。SEMには1。2ナノメートルの色収差補正器が装備されており、より高い倍率で画像のぼやけを軽減します。また、高速スキャンガントリーを備えており、クラス内の任意のSEMの最高解像度の画像を提供します。JEM 2010は、5mm x 5mmのアクティブ領域と20mmの作動距離を持っています。これにより、過度の試料から客観的な距離を必要とせずに、小さな試料を観察することができます。アクティブエリアの右上隅はチャンバーウィンドウビューに近い位置にあり、より高品質なマイクログラフを可能にします。また、統合されたデジタルイメージングユニットを採用しており、強力な画像操作が可能です。この機能は、ズーム、拡大、コントラスト調整、シャープネス、ネガティブ、非破壊的な画像編集など、さまざまな機能を提供します。また、1Kのディープイメージメモリと最大5000枚の画像を保存する機能も備えています。JEM-2010は8セグメントのコンピュータ制御ステージを備えており、1mm/秒の速度でオブジェクトを最大100mm水平に移動できます。このステージは、スライド位置のマッピングやマッピング効率の向上に使用できます。また、3次元傾斜ステージを内蔵しており、2軸で最大10度の移動が可能で、斜めの照明で深度知覚が可能です。統合されたコラム制御マシンは、低真空スキャン条件と高真空スキャン条件を迅速に切り替えることができます。これにより、SEMは、非導電性サンプルから高導電性サンプル、および非磁性サンプルから磁性サンプルまで、すべて1つのスイッチで幅広いイメージングを実行できます。JEOL JEM 2010は、豊富な機能リストに裏打ちされた印象的なSEMパッケージです。その汎用性と強力なイメージング機能により、多くの科学的、産業的、学術的な走査型電子顕微鏡アプリケーションでの使用に最適です。