中古 JEOL JEM 2010 #9192793 を販売中

JEOL JEM 2010は、ミクロンからナノメートルスケールまで様々な基板に最適な高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この強力な装置は、電子を使用して原子界の画像をキャプチャし、研究や産業用途に使用できる3次元画像を作成します。JEOL JEM-2010は、電磁力を利用して最大6度の自由度を実現し、精密かつ制御された試料の動きを実現する、試料配置用の大径200mmステージを備えています。このSEMは、ビーム電流の10nAまでの明るさと1nmのスポットサイズの解像度を提供し、優れた画質を提供する高解像度フィールド放射銃を誇っています。さらに、3つの多機能デフレクターと客観的な絞り制御システムを備えた高度な電子光学機器により、ユーザーはサンプルの画像を正確にキャプチャすることができます。表面情報のための二次電子イメージング、地形や組成を見るための後方散乱電子イメージング、高解像度のコントラストを高める高解像度検出器など、幅広いイメージング機能を備えています。JEM 2010は、これらのイメージング機能を組み合わせることで、さまざまな用途で微細構造、粒子、欠陥などの微妙な特徴を検出することができます。この汎用性の高い機器は、豊富な分析情報を提供します。SEM画像に加えて、オプションのエネルギー分散X線検出器（EDX）は要素情報を提供することができます。自動ステージ移動やリアルタイムパラメータ設定などの自動制御機能により、解析にかかる時間を短縮します。JEM-2010には、画像処理と解析機能を含むソフトウェアスイートが装備されています。この包括的なスイートは、サードパーティ製アプリケーションとともに、3D再構築、スペクトル解析、スペクトルイメージングなど、さまざまなポストテスト処理オプションを提供します。このソフトウェアは、シームレスで効率的なワークフローを保証する機械制御と接続オプションも提供します。結論として、JEOL JEM 2010は、高解像度イメージングと幅広い分析機能を提供する高度で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。そのユーザーフレンドリーな設計と組み込み機能により、産業および研究アプリケーションに最適です。