中古 JEOL JEM 2010 #293797155 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 293797155
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INCA X-Sight
OXFORD Link ISIS EDX System
GATAN MultiScan 794 CCD Camera
Cathodes: Lab6 With filament
VARICON De-Vere 504 Enlarger
Camera pixel size: 1024 x 1024
Operating voltage: 120-200 kV.
JEOL JEM 2010は、分解能0。25 nm、加速電圧0。01〜100 KVのSTEM（走査透過電子）顕微鏡で、高度な分析および3Dイメージング用途のニーズに最適です。革新的な低アライメントオプティクスにより、優れた性能を発揮します。この低アライメント技術により、ナノスケールでのサンプルの柔軟性と高速かつ信頼性の高い解析が可能になります。この最先端の顕微鏡には、精密な元素分析のためのEDX（エネルギー分散X線検出器）が搭載されています。また、JEOL JEM-2010には、超伝達電子顕微鏡（STEM）検出器とナノアパーチャー（NA）検出器を搭載しています。STEM検出器を使用すると、解像度を高め、最適な倍率範囲を選択できます。NA検出器は、ナノ構造の優れた高解像度画像を提供します。また、JEM 2010では、IPS（画像処理ソフトウェア）を搭載した高度なイメージングシステムを搭載しており、0。2ミリ秒統合で最大12フレーム（fps）のイメージングを提供します。画像処理システムは、コントラストの広い材料のサブミクロンイメージングに強力で効果的です。また、JEM-2010は高速Z駆動ステージを使用して試験片を簡単かつ正確に移動させ、ナノサイズの粒子の高解像度断層撮影を可能にします。また、JEOL JEM 2010は、色収差を補正する高効率Cs補正機能を内蔵しており、解像度とコントラストに優れています。また、低温イメージングのためのクライオステージを統合した高度な分析機能を提供し、自然環境における生命体のイメージングを可能にします。この汎用性の高いシステムは、単純な元素解析から複雑な3Dイメージングアプリケーションまで、さまざまな実験を行うことができ、高度な電子顕微鏡研究に最適です。その高度なイメージングおよび分析機能と低アライメント光学を組み合わせたJEOL JEM-2010は、ナノスケールの材料や生命形態の調査に最適な機器です。
まだレビューはありません