中古 JEOL JEM 2010 #293751171 を販売中

JEOL JEM 2010は、ナノスケール天体のイメージングおよび解析用に設計された高度な走査型電子顕微鏡です。これは、3。2nmの非常に高い空間分解能、高度なサンプル調製機能、コントラスト制御イメージング装置、in-situ解析機能を備えたデジタルイメージングデバイスです。この顕微鏡は、背面散乱電子イメージング、二次電子イメージング、X線マイクロアナリシス、渦電流プロービング、元素マッピング、位相組成解析、化学組成解析など、多くの種類のイメージングおよび分析アプリケーションに使用できます。また、JEOL JEM-2010には5軸コンピュータ制御のサンプルステージが搭載されており、オペレータは様々な角度での画像処理や解析作業を極めた精度で行うことができます。JEM 2010は、イメージング機能に加えて、高度なエネルギー分散型X線装置（EDX）を搭載しており、高感度で精度の高い元素解析が可能です。この単位は0-100kVの分析範囲を利用し、原子レベルの元素を検出することができます。さらに、EDX検出器は、サンプル内で検出された各要素の迅速なマッピングを可能にし、元素分布のイメージングを可能にします。JEOL 2010には、最大15。6メガピクセルの解像度で画像を撮影できるデジタルカメラも搭載されています。このモジュールは、高解像度のライブイメージストリームをユーザーに提供します。これは、イメージング、観察、または同僚との結果の共有に使用できます。最後に、JEM-2010には、ユーザーがElectric Fieldでサンプルを探索できるEDGEマシンが装備されています。このツールは最大4 keVのエネルギーを使用し、欠陥の検出、表面解析、金属のエッチング、合金分析などのさまざまな作業に使用できます。全体として、JEOL JEM 2010は、優れたイメージング機能と強力な分析機能を備えた高度な走査型電子顕微鏡です。その汎用性とユーザーフレンドリーなデザインは、科学研究、産業および教育アプリケーションの広い範囲のための理想的なツールになります。