中古 JEOL JEM 2010 #293741442 を販売中

JEOL JEM 2010は、優れたイメージング性能と最大の運用効率を実現するために設計された、ハイエンドスキャン電子顕微鏡（SEM）です。高性能な電子光学カラムと高性能の二次電子検出器を備えており、最高レベルの画像の鮮明さと解像度を保証します。この顕微鏡は、30 kVで最大解像度15mm、投影画像サイズは1ミクロン以下です。その倍率範囲は15倍から300万倍で、さまざまなSEMイメージングモードを簡単に切り替えることができます。JEOL JEM-2010は、オートフォーカス機能を備えた高度な自動サンプルステージと、汎用性の高いデジタルイメージング機器を備えています。これにより、動的な画像取得と迅速な分析が可能になります。SEMイメージング用の超高倍率から、大面積の表面解析用の低倍率まで、幅広い試料イメージングの可能性を提供します。また、詳細な粒子解析のための電子後方散乱回折（EBSD）システムを搭載しています。明るいフィールド、暗いフィールド、偏光画像を同時に取得することができます。JEM 2010では、パーティクルイメージ速度測定によるサンプルの自動アライメント、ソフトウェアアシスト試験片のセンタリング、自動化された画像強化などの機能により、効率とスループットが向上しました。高度なオートメーションと2Dおよび3D測定のために、JEM-2010にはAutoVision imageCaptureとimageAnalysisソフトウェアがあります。この自動化されたサンプルイメージングユニットは、高度なパターン認識、分類および解析、およびフルカラーステレオ再構成を備えており、顕微鏡の結果が正確で信頼性が高いことを確認します。JEOL JEM 2010は、使いやすいコントロールと操作しやすいユーザーインターフェースで設計されており、研究施設や教育施設に最適です。高速ターンオーバー時間と直感的なユーザーコントロールにより、高度な生産ラインにも適しています。この走査型電子顕微鏡は、クリーンルーム標準の互換性と高度な機械機能を備えたモジュラー設計コンセプトを持っています。高度な自動化、安全メカニズム、グローバルなサポートにより、JEOL JEM-2010は、すべての研究および生産アプリケーションにおいて信頼性の高いSEMの選択肢です。