中古 JEOL JEM 2010 #293639508 を販売中

JEOL JEM 2010は、材料研究、故障解析、リバースエンジニアリング用途に特化した機能豊富な走査型電子顕微鏡（SEM）装置です。高解像度イメージングとソリューションを提供する幅広い機能を提供します。JEOL JEM-2010は、μで最大解像度1。2nmの15nm-10 1kV mからの視野範囲を提供する3つの電子カラムの組み合わせを利用しています。最適なビーム集束のための高度なインレンズCsプローブが装備されており、200 μ Aまでの高電流で動作することができます。これにより、高い精度と精度でビーム制御が可能になります。JEM 2010は、Energy Dispersive X-Ray Analysis （EDS）を通じて、ユーザーが表面の特徴を明らかにし、要素マッピングを実行できるさまざまなイメージングモードを生成することができます。また、電子ビーム誘導電流（EBIC）および電子ビーム誘導挿入損失（EBIIL）測定の機能を使用することにより、サンプルの電気特性と形態情報を同時に取得することができます。JEM-2010には、幅広いSEMカラムも用意されており、それぞれが手元のアプリケーションに合わせてカスタマイズできます。自動ビームブランキングユニットは、電子ビームから対物レンズとサンプル表面をガードしながら、空気またはオイルダンパーで構成されたJEOL SEM防振システムは、安定した動作を保証します。この顕微鏡の標本の段階は交換可能であり、手動またはプログラミング操作のために電動化され、Xで110mm、 Yで80mm、 Z方向で20mmの移動範囲があります。さらに、自動試料交換器と、オプションの低温エクステンダーなどのいくつかのサンプル冷却オプションが装備されています。JEOL JEM 2010では、サンプルドリフトを補正してビームをリアルタイムに集中させる自動電子制御機や、データ解析に使用できる強力な画像処理ソフトウェアも搭載しています。複数のサンプルホルダー、強力なイメージング機能、高度な機能を備えたJEOL JEM-2010は、サンプルの詳細な分析とイメージングに最適なツールです。