中古 JEOL JEM 2010 #293627916 を販売中
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ID: 293627916
Transmission Electron Microscope (TEM)
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JEOL JEM 2010は、日本の会社JEOL Ltd。が製造した最新の走査型電子顕微鏡です。コールドフィールドエミッションガンと収差補正器を搭載した同社初の高解像度超歪み装置です。これにより、卓越した画像の鮮明さと比類のないコントラストを低倍率で提供するだけでなく、より詳細な倍率を高めることができます。動作電圧範囲は最大250kVで、大型無機試料をはじめとする多種多様な試料に適しています。専用の二次および三次電子検出器により、背面散乱や高角環状暗場（HAADF）画像などのさまざまな信号を収集できます。これにより、インストゥルメントを使用する際の制御性と柔軟性が向上します。JEOL JEM-2010には、インコラム式ジンバルステージデザインもあり、高倍率でより精度の高いサンプルナビゲーションが可能です。これは、正確なナビゲーションを必要とするサンプルを操作する際に特定の機能を識別するために重要です。さらに、JEM 2010にはEDS （Energy-dispersive X-ray spectroscopy）検出器が搭載されており、サンプル中に存在する元素の同定とその組成の洞察を可能にしています。この装置はまた、分析中に一定の温度でサンプルを保持することができるcryo-transferオプションを備えているため、熱歪みの可能性がなくなり、結果の精度が向上します。最後に、JEM-2010には自動化されたプログラム可能なステージがあり、ユーザーの労力を最小限に抑えてルーチンタスクを簡単に実行し、効率を大幅に向上させることができます。また、MultiMasterソフトウェアを含む一連のソフトウェアパッケージも付属しています。
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