中古 JEOL JEM 200CX #9243562 を販売中

JEOL JEM 200CX走査型電子顕微鏡は、ナノスケールで材料や生体試料の研究に使用される高性能な分析装置です。この汎用性の高い装置は、高安定性、低電圧、インレンズ場の放出電子源を備えており、柔らかい材料や厚い試料を高解像度で分析することができます。直径180mmのチャンバーサイズと、広い視野でビームスキャンを可能にする4軸ナビゲーション構造を備えています。200CXの二次電子（SE）検出器は、試料表面の特徴を低コントラストで分析することができますが、より高いコントラスト画像を得るためには、背面散乱電子（BSE）検出器を使用できます。イオン抽出システムは、試験片の表面積の低損傷分析を可能にするためにも利用可能です。JEOL 200CXは、SEモードで0。8nm以上、BSEモードで1。2nm以上の画像解像度を生成することができます。テンション補償電源を内蔵しており、X線ビーム励起用に2nA〜20nAのビーム電流で動作できます。また、2。5keV〜22keVのX線波長を検出することができます。オプションのショットキー場の放出電子源もユニットに追加することができ、SEモードとBSEモードの両方でイメージング分解能を向上させます。この200CXには、さまざまな追加機能と機能があります。統合されたデジタルカメラマシンは、ビデオおよびデジタルイメージングアプリケーションをサポートするために利用可能です。このツールには、自動標本自動stigmateアセット、および自動スキャンおよびデータ収集用のモデルコントローラも含まれています。これは、ユーザー制御のための堅牢なソフトウェアのセットを備えています。また、SE、 BSE、 X線などのさまざまなモードで収集されたデータを柔軟に組み合わせて、3次元解析と可視化のための画像の組み合わせを形成することができます。全体的に、JEOL JEM 200 CXは、ナノスケール材料や生物学研究のための機能と利点の広い範囲を提供しています。優れた設計と高度な性能を備えた200CXは、信頼性の高い高精度な結果を必要とする研究者にとって理想的な顕微鏡装置です。