中古 JEOL JEM 200CX #9240853 を販売中

JEOL JEM 200CXは、試料表面の高分解能イメージング用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。200CXは「超高解像度」フィールド放射源を備えており、優れた解像度とコントラストを提供し、最大解像度は4ナノメートルです。SEMには球面収差補正（C）があり、画像解像度とコントラストを高倍率で向上させます。この200CXには、サンプルの優れた元素分析のための高性能エネルギー分散分光（EDS）検出器が含まれています。EDS検出器は、BeからUまでのすべての要素を表示し、サンプル組成に関する詳細な情報を提供することができます。この顕微鏡には、伝送イメージングを利用して解像度とコントラストを向上させるSTEM（走査透過電子顕微鏡）機能も搭載しています。さらに、サンプルの取り扱いを自動化し、サンプルの積み降ろしを容易にするほか、画像を簡単に取り込み記録するためのデジタルイメージングシステムも備えています。200CXは、サンプルスキャン速度を毎秒75ステップまで達成でき、画像1枚につき15秒未満で画像キャプチャを達成できます。JEOL JEM 200 CX SEMは、材料の元素解析、表面解析、故障解析、立体イメージングなど幅広い用途に対応しています。それは多目的な設計であり、特徴の範囲は200CXをいろいろな分析の必要性のための優秀な選択にします。例えば、高解像度イメージング機能はナノメートルスケールの特徴を調べるのに適しています。さらに、EDS検出器を使用すると、サンプル内のさまざまな要素を識別して定量化できます。200CXは、操作とメンテナンスが容易な信頼性と堅牢なSEMです。人間工学に基づいた設計により、すべてのコンポーネントに容易にアクセスでき、鋳造された金属ベースは安定性を向上させます。さらに、Ultra-High ResolutionモードとC s Correctorの組み合わせは、優れたイメージング機能を提供します。