中古 JEOL JEM 1400 #9199923 を販売中

JEOL JEM 1400は、エネルギー分散型X線分析装置（EDS）を内蔵した走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、分析および材料科学研究のための貴重なツールであり、微細構造をサブミクロンレベルの詳細に可視化および分析することができます。非常に安定した精密な自動制御システムと優れた分析機能を備えています。低真空、In-Situ観測用の可変圧力、冷凍水和サンプルの検査用のcryo-SEMなど、さまざまなSEMモードが利用可能です。また、サンプルの位置決めのための自動化されたステージと、サンプルの積み下ろし、サンプルからサンプルへの転送、スキャニングイオン顕微鏡（SIM）やセカンダリ電子オートポーレート（SEAP）などのリモートソフトウェアによる操作のためのオートメーションインターフェイスも備えています。JEM 1400の動作電圧範囲は0.5kV〜30kVで、解像度は2azim（角度）です。横方向および縦方向の分解能は、1kVで0。7nm、 30kVで0。6nmです。また、インカラムエネルギーフィルタを装備しているため、より高い電圧での干渉を減らすためのエネルギーフィルタリング機能が向上しています。JEOL JEM 1400には、電子ビームステグマ、デジタル信号処理、自動露出プロトコル機能、複数のサンプル転送、アップグレードされた画像処理システムなどの機能も搭載しています。検出器配列は高感度で、二次および後方散乱電子検出器の両方が含まれています。二次電子検出器は広い視野を持っており、より大きな倍率でより高速なイメージングを可能にします。自動化された測定のために、JEM 1400には、複数の軸間の自動領域および線形測定を容易にする一連の計測ソフトウェアと、統合されたEDSによる自動元素組成解析が含まれています。同じオートメーション機能を使用して、二次および後方散乱電子要素と組成マップを取得することができ、ターゲット分析に最適です。全体として、JEOL JEM 1400は非常に汎用性が高く、強力な走査型電子顕微鏡であり、微細構造およびナノ構造への多種多様な分析および計測アプリケーションに適しています。その効率的な自動化機能、精密制御システム、および多様なサンプルを捕捉および分析する能力は、高度な能力を求める人々にとって、マーターサイエンスの分野で非常に貴重なツールとなります。