中古 JEOL JEM 1230 #9226959 を販売中
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ID: 9226959
ヴィンテージ: 2005
Transmission electron microscope (TEM)
Digitized microscope controlled by microprocessor
Motorized 5-axis object stage
Active matrix color monitor (TFT)
Interactive control of operating parameters by mouse / Console
Backup of operating parameters and control
Programmable personal files
Standard RS 232 C connections
Guaranteed resolution: 0.20 nm in periodic system
Acceleration voltage:
40 to 120 kV
Plot minimum: 50 V
Programmable
Magnification range:
50 x 1000 x (Low MAG function)
1000 x 600,000 x (MAG function)
Object tilt: +/- 45°
2005 vintage.
JEOL JEM 1230は、高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。高度な解像度と画質を提供し、さまざまな科学および産業用イメージングアプリケーションで使用できます。オールインワン装置は、水晶モノクロメータと高解像度電子光学レンズ、超高速スキャン速度を備えています。20Xから1,000,000Xまでのスキャン倍率が豊富で、多種多様なサンプルの詳細な解析が可能です。このSEMには、酸素、炭素、硫黄などの元素情報を得るために使用できる微小分析システムも内蔵されています。最大加速電圧は30kVで、より高い分解能と低ビーム電流でサンプルの損傷を低減できます。洗練されたソフトウェアパッケージにより、直感的で簡単な計器のユーザーコントロールが可能です。これには、データ取得パラメータの設定、スキャン速度の制御、画像の強化の制御などが含まれます。また、画像編集および画像解析機能、3Dイメージマッピング機能も備えており、詳細な解析に使用できます。JEM 1230は、ナノテクノロジーや材料科学などの幅広い用途において高解像度のイメージングを提供する汎用性と信頼性の高いツールです。サブミクロンイメージングなどの半自動システムの高速画像取得を可能にする高度なスレッド検出器を搭載しています。さらに、SEMには接眼レンズで直接観察できるデジタルカメラが内蔵されています。全体的に、JEOL JEM 1230は優れた画質と高度で信頼性の高いSEMです。優れた解像度と、さまざまなサンプルの詳細な分析を提供する機能、および使いやすく機器を制御するユーザーフレンドリーなインターフェースを提供します。さらに、組み込みの分析ユニットと3Dイメージマッピング機能により、オペレータはサンプルの特性を詳細に把握することができます。機械は範囲の適用にとって理想的で、企業および研究に貴重なサポートを提供します。
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