中古 JEOL JEM 1230 #293820131 を販売中

JEOL JEM 1230 scanning electron microscope （SEM）は、産業用および科学的用途で利用可能な最高級の走査型電子顕微鏡システムの1つです。JEM 1230は、画像処理に二次電子（SE）を利用し、二次イオン質量分析（SIMS）、試料中の枯渇電圧などの電気特性解析、走査伝送電子顕微鏡（STEM）解析にも使用できます。JEOL JEM 1230は、機器の操作を簡素化し、ユーザーが素早く画像パラメータにアクセスし、調整することができるタッチスクリーンユーザーインターフェイスを備えています。このユーザーインターフェイスは、銃の傾き角度、対物レンズの選択、画像の焦点、ビーム強度、加速電圧などのスキャン電子顕微鏡の設定にアクセスできます。JEM 1230は、イメージングを強化するためのコールドフィールド放射源を備えており、低kVアプリケーション（100Vまで）およびより厳しいアプリケーションのために最大30KVまでのサンプルをイメージングすることができます。JEOL JEM 1230は、高解像度データと分析データの両方を生成するために使用することができます。最大150,000X倍の倍率範囲で高解像度の画像を生成することができます。JEM 1230はまた、サンプルの回転表示を可能にするインコラム回転試料ホルダーを備えています。この機能は、サンプルの構造フィーチャーまたは形状の分析を強化する独自の機能を提供します。また、JEOL JEM 1230には自動ステージと一体型アライメント顕微鏡が搭載されており、迅速かつ効率的にサンプルをスキャンすることができます。JEM 1230は冷却された検出器のためにまた構成され、システムはいろいろなイメージ投射の適用で使用することを可能にします。JEOL JEM 1230は、イメージングプロセスのパラメータを制御および監視し、操作と安全性を強化します。また、自動アライメントユニット、ビーム電流制御装置、イメージング中の試験片の温度を監視および制御するための高度な制御ツールなどの機能も備えています。JEM 1230は、高精細画像アセットを備えており、画像の明瞭度と色域を向上させます。このモデルは、より詳細かつ精度の高いサンプルのイメージングを可能にします。画像装置は、特に小さな粒子のために設計されており、1マイクロメートルまでの粒度の解像度を備えています。JEOL JEM 1230は、高解像度および分析イメージングを必要とする産業用および科学用途向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡システムです。低kVイメージングからSIMSやSTEMなどの高kVアプリケーションまで、最も要求の厳しいイメージングアプリケーションに最適です。