中古 JEOL JEM 1210 #9204269 を販売中

JEOL JEM 1210は、研究室および産業用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このデバイスは、大型の真空チャンバーを備えており、10Xから30,000Xまでの倍率範囲を提供します。試料に90°で構成された検出器を使用し、試料の3Dビューを提供します。また、電子銃には0。5〜30KeVの制御可能なエネルギー範囲があり、画像の深さを微調整することができます。独自の「高角」照明スプレーを採用したJEM 1210は、ビーム電流の均一性を向上させ、より大きなサンプルのカバレッジを向上させます。また「、Sub-Scan」などのスキャン機能も搭載しており、選択した倍率で画像を30Xまで拡大することができます。また、標準のスキャン速度に比べて画像速度を最大200倍に向上させることができる「Super-Scan」も搭載しています。JEOL JEM 1210は、イメージング特性を向上させるために設計されたさまざまな機能が同梱されています。専用の「加速場補正」モードでは、試料付近の磁場による歪みを補正します。「Electron Microanalysis」オプションを使用すると、イメージングに加えてサンプルの定量分析が可能になります。このユニットはまた、サンプルからX線スペクトルを収集し、サンプルに関する元素情報を提供することができます。JEM 1210は検出および分析のためのさまざまな周辺機器付属品を組み込んでいます。システムには、第1段セパレータ検出器、第2段スキャンユニット、デジタルイメージング装置が含まれており、迅速な性能と優れた結果を可能にします。このデバイスには、サンプルの正確なスキャンと操作を可能にする検索ユニットとステージユニットも含まれています。さらに、JEOL JEM 1210には、システムの自動制御とスキャン上のさまざまな機能の統合制御のためのカスタムソフトウェアが組み込まれています。JEM 1210では、原子や分子から半導体、ナノ構造まで、さまざまな素材のイメージングや解析を行うための強力なツールを提供しています。この汎用性の高いSEMは、包括的なサンプル分析とイメージングのための効果的なソリューションです。