中古 JEOL JEM 1210 #149958 を販売中
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タップしてズーム
ID: 149958
ヴィンテージ: 1994
Transmission electron microscope
Specifications:
For high contrast imaging at low to moderate magnifications (< 100,000x)
Used to image thin (< 200nm) samples of polymers and frozen hydrated solutions (surfactants,colloids, emulsions)
Maximum operating voltage: 120kV
Capable of imaging in high magnification (> 1,000x), low magnification, and diffraction modes
Minimum dose software
Free lens control
On-line measurement capabilities
Applications:
Conventional imaging and diffraction analysis
Cryo-transfer TEM of frozen hydrated specimens
Low-dose imaging of delicate specimens
Capabilities:
Accelerating voltage range 40-120 kV
Resolution 0.20 nm lattice, 0.36 nm point
Magnification from 50x to 800,000x
Graphical user interface with mouse control of most microscope functions
Film sheet type camera (can be upgraded to a digital camera system)
Includes:
Surrounding structure/desktop
Components to assemble system
Supporting documents, software disks, manual schematics
Tool Box and Manuals
Top Cl Lens
Flex Vacuum Lines
Penning Gauge Head
Pirani Tube, Top Vacuum Manifold
Film Receiving Boxes
Vibration Isolator Block and Air Line
Main Operation Video CRT Monitor
Main Gun lift Assembly
Keyboard
EM 21010 Single Tilt
Specimen Holder
Filaments
Spare Parts for ACD Heater
Extender PCB
Water Valve
Water Flow Meters
Misc. Parts
Assorted Cables
Film ING CRT
Cables and Binoculars
Air Compressor
HT Cable and Switch
Grounding Arm and Springs
Gun Lift Arm. Anode Chamber
Gun Ceramic
ACD Tank
Braided Copper
Anode Flexible Vacuum Line
Camera Adapter
Gun Chamber
Always under OEM service contract
De-installed by OEM and stored Q4 2006
1994 vintage.
JEOL JEM 1210は、JEOL Ltd。が設計・製造した走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、高解像度イメージングと高倍率を実現するために、フィールド放射銃（FEG）陰極を利用しています。JEM 1210は、最大加速電圧10kVの1。2kVのエネルギーに電子を加速することができます。このEMは、10x〜100,000xの倍率範囲を提供するズームレンズシステムを備えた100mm幅の試験片ステージを備えています。JEOL JEM 1210の電子光学系は、光子発生ノイズを最小限に抑え、FEGカソードに起因する低レベルの迷子電子と、優れた解像度とコントラストを提供します。EMには、サンプルのフルフレームまたはタイルスキャンモードのいずれかの直接デジタル画像を取得できるデジタルイメージングインターフェイスが装備されており、これらの画像は専用ソフトウェアを使用して分析することができます。JEM 1210には、最小ステップサイズ8nmの電動ステージが装備されています。これにより、必要なときに微細な微細な調整が可能になり、非常に小さな標本のイメージングが可能になります。また、BSD （Backscatter Detector）は、微細な物体のイメージングと検出を強化するための二次電子信号を提供するだけでなく、必要に応じて低真空で標本を撮影することができる可変圧力検出器も備えています。JEOL JEM 1210は、ルーチンタスクに適しているほか、コンポジション、エレメントマッピング、表面地形、質感、粒度、形状など、サンプルに関する幅広い情報を収集する複合マルチプローブ解析も可能です。さらに、4keVから10keVまでの幅広いエネルギーを検出することができ、他のSEM法では見ることができないものも含め、幅広い粒子の解析が可能です。JEM 1210には2基のIn-Situ試料調製ホルダーが供給されており、加熱および冷却のための温度制御ステージや材料のin-situ蒸着が可能です。さらに、最先端のPCベースのソフトウェアは、画像組成、明るさとコントラスト制御、粒子分析、ヒストグラム解析、3Dイメージングなどの強力な画像操作機能を提供します。全体として、JEOL JEM 1210は強力で汎用性の高いツールであり、科学者や研究者の幅広い用途に使用できます。これは、高倍率、優れた解像度とコントラストだけでなく、サンプル準備と画像操作機能の配列を提供しています。
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