中古 JEOL JEM 1200EX #293826789 を販売中

JEOL JEM 1200EXは、高度な透過・走査型電子顕微鏡で、優れた精度と精度でサンプルから非常に詳細な立体画像を抽出することができます。この洗練された機器は、最高の解像度のデジタルイメージング技術を使用しており、優れたコントラスト、解像度、デジタルイメージの品質を提供します。その詳細な分析とイメージング機能により、ユーザーはナノスコープのレベルでサンプルの特性を観察し、定量化することができます。JEM 1200EXは、最大0。75nmの解像度で、優れたイメージング機能と性能を備えており、様々なナノ構造やサンプルの特徴を効果的に識別し、特徴付けることができます。このモデルは、2軸スキャンシステムを備えており、自動ステージを備えているため、手動ステップを必要とせずに簡単にサンプルを移動することができます。この2軸スキャン機能により、X、 Y、 Z方向のサンプルを同時に観察・分析することができ、粒子や構造を調べる際のより正確な結果を得ることができます。JEOL JEM 1200EXは、優れたイメージング機能に加え、様々な解析オプションを備えています。背景散乱電子、透過電子、半定量X線装置などの元素や化合物解析モードを多数搭載しています。内蔵のエネルギーフィルタにより、分析タスクごとに最適な電子ビームエネルギーを正確に選択でき、表面、材料、デバイスの高分解能解析が可能です。ノイズ性能が非常に低い高効率な信号処理は、最適化された信号増幅アルゴリズムを利用して、デジタル画像のコントラストと信号対ノイズ比を向上させます。JEM 1200EXには、簡単なセットアップ、操作、メンテナンスのためのソフトウェアパッケージが含まれています。この機能は、サンプル評価とデータ分析の完全なワークフローを研究者に提供し、正確さと一貫した結果を保証します。JEOL JEM 1200EXは、高精度・高精度な試料の高解像度イメージング、解析、可視化を可能にする強力な走査型電子顕微鏡です。幅広い機能、高度な技術、ソフトウェアパッケージを使用することで、研究者は信頼性の高いデータと結果を利用可能な最高解像度で得ることができます。