中古 JEOL JEM 1200EX II #9250558 を販売中

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ID: 9250558
Transmission Electron Microscope (TEM) Magnification: 50x to 500,000x GATAN ORIUS CCD Side mount digital camera Standard magnification mode: SAP10B: 800 to 600,000 times, 30 steps SHP10: 1,200 to 1,000,000 times, 30 steps SAP10: 600 to 500,000 times, 30 steps Selected area magnification mode: SHP10B: 4,000 to 500,000 times, 22 steps SAP10: 2,000 to 250,000 times, 22 steps Low magnification mode: 50 to 1,000 times, 14 steps Electron diffraction camera: Display: Digital, film printout Selected area electron diffraction: SAP10B: 150 to 3,500 mm, 15 steps SHP10: 100 to 2,500 mm, 15 steps SAP10: 200 to 5,000 mm, 15 steps High disperation diffraction: 4 to 80 m, 14 steps High resolution diffraction: 337 mm Electron gun: Type: Cool beam Filament: Pre-centered hairpin type, DC heating Bias: Self bias, continuously variable Alignment: Electromagnetic 2-stage interlock system Anode chamber valve and electron gun lift: Built-in Pneumatic control Condenser lens: Electromagnetic, double condensers Beam tilting angle: Maximum 6° Specimen exchange: Airlock mechanism Loading capacity: (2) Specimens Specimen movement range: X, Y Directions: ±1 mm Z Direction: +0.2, -0.3 mm Camera chamber: Film size J: 59 mm x 81.5 mm Loading capacity: Up to 50 Feeding and shutter: Automatic and manual Exchange mechanism: Airlock type Evacuation system: Vacuum pumps: Oil rotary pump and oil diffusion pump Ultimate pressure: 10^-5 Pa Cooling water: Flow space: 5 I/min Pressure: 0.1 to 0.5 MPa Temperature: 15°C - 20°C Ground terminal: 100 ohms or less, 1 Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 6.5 kVA, Single Phase.
JEOL JEM 1200EX II走査型電子顕微鏡(SEM)は、固体材料の物理的性質を顕微鏡レベルで調べるのに理想的な、洗練された科学機器です。SEMは、試料表面からの電荷解放と検出の原理に基づいて動作し、高解像度のイメージングと分析を可能にします。SEMは、電圧、倍率、作動距離などのさまざまな動作条件を使用することにより、最大4ナノメートルの解像度で30 µmの被写界深度の画像を生成することができます。JEOL JEM 1200 EXIIはすべてのレベルのユーザーのために設計されています。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、一般的に使用される機能のための専用ボタンを使用して、簡単に制御および設定できます。オペレータは、マルチビームSEMイメージングのようなイメージングモードを簡単に切り替えることができ、コントラストと解像度を向上させることができます。さらに、サンプルホルダー、ガス制御システム、自動サンプル交換システムなどの性能とユーザビリティを高めるために、多数のアクセサリを装備することができます。JEM 1200EX IIは、高性能、ネットワークの複雑性、使いやすさを兼ね備えており、さまざまな材料科学アプリケーションに最適な信頼性の高いイメージングを提供します。フィールド・エミッション・ガンを搭載し、長期的な性能を最大化するシステムを備えています。このシステムは、銃室からの残骸をフィルタリングし、銃の寿命を延ばし、一貫して高品質の画像を提供します。また、電子銃は高解像度のモノクロメータを採用し、色精度と画像コントラストを向上させています。JEM 1200 EXIIは、高圧または低圧、高温または低温、ガス、液体、固体サンプルなどのさまざまな環境条件で使用できます。自動化されたサンプル交換システムによって、顕微鏡は手作業なしでサンプルを容易に切り替えることができます。さらに、SEMは、顕微鏡を制御し、画像を測定および分析し、さらにデータを保存および操作するためのオプションのソフトウェアオプションを提供します。JEOL JEM 1200EX IIは、顕微鏡スケールで物体のイメージングと分析を行うために設計された、強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。この顕微鏡は、高性能、使いやすさ、柔軟性を備えており、幅広い用途の材料を迅速かつ正確に分析するのに役立ちます。
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