中古 JEOL JEM 1010 #9302701 を販売中

JEOL JEM 1010は、50万倍までの倍率で高解像度の画像と分析データを生成するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。装置の中心には電子銃があり、ナノスケールでの表面や物質構造の検出、分析、画像処理に使用される高エネルギー電子ビームを生成します。このシステムには、S字型スキャンで解像度1nmまでのデータをキャプチャできる高度なイメージングユニットが装備されています。また、材料分析用の高解像度バックスキャッター検出機、データ分析用の統合分析ソフトウェアプラットフォームを備えたコンピュータも含まれています。このツールの中心には電子銃があり、0。5-30kVの加速電圧範囲と1nAのビーム電流を持つ電子ビームを生成することができます。この銃には、電子源、コンデンサーレンズ、対物レンズが含まれ、その他のいくつかのレンズや微調整のための開口部が含まれています。このアセットには、従来の熱電子発射器とフィールド放射銃のソースが装備されています。制御モデルは精密スキャンと非常に洗練された制御装置で設計されており、非常に正確な画像の位置決めと操作を可能にします。画像は、サンプリングされた表面上の電子ビームの動きによって生成され、目的のデータをキャプチャするためにスキャンされます。画像を取得すると、提供されたソフトウェアで処理および分析することができます。JEM 1010には、エネルギー分散X線分光法（EDX）、電子エネルギー損失分光法（EELS）、元素マッピング、空間分解分光法など、さまざまな専門的な分析機能も含まれています。また、低電圧の逆散電子検出器を使用して非導電面を検査することができ、地形特性と表面特性の両方を解析することができます。JEOL JEM 1010走査型電子顕微鏡は、高解像度の画像や分析データを、繊細なナノスケールのサンプルや材料から取り込むことができる、汎用性の高いユーザーフレンドリーな装置です。強力な電子銃、高度なイメージングと分析能力、統合されたソフトウェアマシンを組み合わせることにより、このツールはさまざまなアプリケーションの研究開発に最適なツールです。