中古 JEOL JEM 100C #9408448 を販売中

JEOL JEM 100Cは、ナノスケールイメージングおよび解析のニーズに対応するために特別に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。100Cは、広範囲のサンプルで高解像度のイメージングと分光を行うことができます。この汎用性の高い機器は、有機ポリマーや繊維から半導体や金属まで、さまざまな材料の微細構造や化学組成についての洞察を得るために使用できます。JEM 100Cの中心には、優れた明るさと解像度を提供する多極ショットキーフィールドエミッションガン（FEG）があります。モノクロメータを使用して、単一の波長の電子を選択し、信号対ノイズ比を増加させます。これにより、レンズ収差の低さと相まって、最大0。07nmという極めて高解像度の画像処理が可能となりました。さらに、超高真空（UHV）内部チャンバーは、サンプル信号が環境ガスによって干渉されないようにします。この装置は、自動試料ローディング、ステージドライブ、サンプルアライメントなど、さまざまなオートメーション機能を備えています。また、研究作業のための統合処理ソフトウェアも含まれており、データをシームレスに管理することが容易になります。また、100Cは自動真空ポンプシステムを備えており、システムの迅速な避難を可能にします。JEOL JEM 100Cは、二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、電子ビーム誘導堆積など幅広いモードで動作可能です。エネルギー分散型と波長分散型のX線分光法（EDXとWDX）を使用して、サンプルの元素組成を検出および分析する機能を備えています。JEM 100Cは、最高解像度の画像を必要とするアプリケーションや、さまざまな材料の化学組成を分析する能力のための優れた選択肢です。低収差レンズ、高効率FEG、 UHVシステムにより、優れたイメージングおよび解析機能を提供します。これらの機能を組み合わせることで、JEOL JEM 100Cはクリアで高解像度の画像や精密な要素解析をお探しの方に最適なツールとなります。