中古 JEOL JCM-5700 #293671429 を販売中

JEOL JCM-5700
製造業者
JEOL
モデル
JCM-5700
ID: 293671429
ヴィンテージ: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) 2007 vintage.
JEOL JCM-5700は、広範囲のサンプルの高解像度イメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。1nmから100 μ mまでの高解像度イメージング機能により、ナノスケールとマクロスケールの両方の解析に最適な機器を提供します。1。2nmのスキャンスポットサイズのJCM-5700は、優れたイメージング性能を発揮し、ナノスケールの3次元解像度を実現します。SEMは、エレメンタルマッピング、組成解析、マイクロスケール欠陥検査など、幅広い用途に高エネルギー電子を供給する専用の電子源を持っています。この顕微鏡はまた、完全な解像度で鮮明なデジタル画像をキャプチャするための統合されたCCDカメラを備えているため、さまざまな研究アプリケーションに役立ちます。JEOL JCM-5700には、自動高真空動作を実現するオートチューニングレンズが内蔵されています。また、手動チューニング機能により、イメージング性能を向上させます。この顕微鏡には、オプションのEverhart-Thornley二次電子検出器を装備して、イメージング性能を向上させることもできます。この検出器は、信号処理を内蔵しているため、試料の充電を最大90%削減しながら、分解能を20%向上させます。JEOL Digital Image Processing (DIP)システムJCM-5700、さまざまな方法でデータを可視化することができます。このユニットでは、詳細な画像を重ね合わせ、比較し、迅速かつ簡単に分析することができます。また、低フラックス画像のノイズ低減を可能にすることで、画質を向上させます。JEOL JCM-5700には、操作をより効率的にするためのさまざまな自動化機能が搭載されています。これらには、サンプル表面をポイント間で移動するための自動フォーカス、正しい染色を保証するための自動シース、サンプルを正確に配置するための自動アライメントが含まれます。全体的に、JCM-5700の高性能およびオートメーション機能により、画像キャプチャとサンプル分析が効率的かつ信頼性が高くなります。ナノスケールからマクロスケールまで幅広い研究用途に最適です。柔軟なハードウェアと強力な画像処理機能を備えたJEOL JCM-5700は、研究および産業用の両方に最適なマシンです。
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