中古 JEOL JCM 5000 #293797365 を販売中

JEOL JCM 5000走査型電子顕微鏡（SEM）は、ナノスケールの研究に使用される非常に強力な装置です。高解像度の電子ビームを利用して、詳細な表面と断面画像を取得します。動作に最適な加速電圧は1〜30kVで、ナノメートルの解像度でサンプルの詳細を正確に調べることができます。この検出器は、受信した電子をデジタル画像や3D地形図などの可視情報に変換する高速シンチレータです。JCM 5000は、BSE（後方散乱電子）、WDS（波長分散分光法）、EDS（エネルギー分散分光法）、X線イメージングなど、さまざまな分析機能を提供します。これらの特徴により、サンプルの化学組成、元素レベル構造、結晶方位、および電気特性を決定することができます。この顕微鏡には、コールドスキャン電子ビームを備えた高出力の電界放射銃が含まれており、非常に明瞭な画像が得られます。JEOL JCM 5000は、イメージング機能に加えて、様々な試料作製機構を備えています。試料ホルダー、最大6軸で試料を動かすことができるトランスステージ、薄膜用の特殊フィルム調製システムで構成されています。サンプルは導電性層（金、スパッタリング、カーボンなど）でコーティングすることもできます。JCM 5000は、さまざまな高度なサンプルホルダーに対応し、可変環境におけるサンプルの観察を支援するために構築されています。具体的には、真空クライオホルダーは、サンプルドリフトの影響を軽減するためにベインストールすることができ、サンプルを脱氷するためにトップマウントされた発熱体を持っています。JEOL JCM 5000の運用パッケージには、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスを備えたユーザーフレンドリーな運用システムが搭載されています。ユーザーはパラメーターを調整し、カスタムメイドの画像を簡単に取得できます。JCM 5000スキャン電子顕微鏡は、信頼性の高い高性能分析装置です。優れたイメージング、元素分析、サンプル調製能力、およびユーザーフレンドリーな操作システムは、ナノスケールの研究を行う研究者にとって理想的なツールです。