中古 JEOL JBX-6000FS #293749103 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JBX-6000FS
ID: 293749103
E-Beam lithography system.
JEOL JBX-6000FSは、顕微鏡の幅広い用途向けに設計された高性能な電界放射走査型電子顕微鏡(SEM)です。イメージングには、最大加速電圧30kVの先進的な5kWショットキー式界面放射砲と、X線解析能力を向上させた新しいレンズ装置を備えています。画像解像度は20nmで、プローブ電流範囲は0.1-2000nAです。オートモード機能は、直感的でユーザーフレンドリーな画像解析制御と、傾き補正、自動標本ステージ制御、自動画像取得などの高度な操作機能を提供します。このSEMには、優れた微細分解能イメージングおよびエネルギー分散X線分光法のための改良されたミラー電子エネルギーフィルタも含まれています。JEOL JBX-6000 FSは、研究および産業用途の両方の要件を満たす多種多様な機能を備えています。例えば、イオン分解能を変化させるための選択可能な開口部を備えた高速スキャンイオンカラムなど、自動化されたマイクロアナリシスの機能が改善されています。非導電性標本の優秀な表面そして端の対照を提供する明るい分野の探知器;そしてバルク分析のための改良されたIn-lensの逆散乱検出器。その他にも、最適化された操作のための真空管理システムと、より信頼性の高い安定した操作のための自動ゲートバルブを備えた新しい真空制御ユニットがあります。さらに、レーザーオートフォーカス、可変倍率、自動イメージステッチ機能を備えた新しいオートフォーカスマシンにより、詳細かつ正確なイメージングが可能になります。また、サンプルホルダーは、最大180mmまでのサンプルに対応することができ、非導電性サンプルのイメージングを可能にするためのガスパージングツールを装備しています。JBX-6000FSはさまざまな研究および産業適用のための優秀な選択です。これは、20nmまでの構造を解決し、広範囲のイメージングおよび分析機能を備えた標本の特性評価を最大化し、走査型電子顕微鏡、自動微細分析、エネルギー分散X線分光法などの複数の同時イメージング作業を実行できる優れたイメージングおよび制御機能を提供します。
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