中古 JEOL HT Tank for JEM 100CX II #293794297 を販売中

ID: 293794297
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 100CX-II走査型電子顕微鏡(SEM)は、高度な画像処理能力と卓越した分析性能を兼ね備えた独自のシステムで、優れた高解像度画像処理とX線マイクロアナリシスを提供します。この最先端のSEMは、研究および産業関連のアプリケーションに適しています。JEM 100CX-IIは、非導電材料や生体試料などの高表面エネルギーを有する微細な試料を正確に画像化できる高分解能の電界放射銃を特長としています。その多段加速構造は、非常に低い画像データノイズを生成し、最適な画像解像度を確保します。さらに、このSEMには、標準の二次電子検出器、後方散乱電子検出器、およびスキャンとスペクトル取得の両方に使用できる低真空伝送アダプタの3つの検出器が付属しています。この装置には、生体試料の分析のためのエレクトロスプレーイオン化(ESI)ソースも装備されています。このESIソースは、真空システムと結合したマトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI)に匹敵する感度と選択性を提供し、正確な質量分析分析を可能にします。さらに、ピーク分解能のために設計された高分解能電子エネルギーアナライザも装備されています。これにより、より正確で貴重な元素分析結果を得ることができます。また、JEOL JEM 100CX-IIでは、30種類以上の自動解析機能をはじめ、幅広いユーザーフレンドリーな制御・検査機能を提供しています。これらの機能により、ユーザーは特定のサンプル分析要件をカスタマイズでき、最高品質のイメージングとデータ取得が可能になります。この装置には自動サンプルナビゲーションシステムも搭載されており、試験片の表面に沿ったナビゲーションの改善と途切れることなくデータを取得し、より迅速な分析とより効率的なサンプルプロシージャを提供します。結論として、JEM 100CX-IIは、研究の生産性を大幅に向上させることができる優れた性能、自動化、および使いやすさの組み合わせを提供する強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。この装置は、半導体分析や生物学的研究など、さまざまな研究や産業用途に適した貴重なツールです。その特徴の組み合わせは、顕微鏡レベルで材料の特性を研究または調査するとき、それは非常に貴重なツールになります。
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