中古 JEOL FIB JFIB-2300 #9137333 を販売中

JEOL JFIB-2300 Field-Emission Scanning Electron Microscope （FE-SEM）は、研究および産業市場向けに設計された高解像度走査型電子顕微鏡です。JFIB-2300は、幅広いサンプルの最適なイメージングを可能にする高度な技術の配列を備えています。高解像度のイメージング機能により、JFIB-2300はクラス最高のパフォーマンスを約束します。このJFIB-2300は、新しいモノクロメータ構造、二重電子ビームFIB（電界放出FIB）装置、および高解像度イメージングを提供するための直接検出システムで設計されています。高感度モノクロメータは、クリアでコントラストの高い画像を生成し、これまで他のシステムでは得られなかったサンプルの分析を可能にします。デュアル電子ビーム設計により、サンプル領域のナビゲーションが容易になり、ビームパラメータを変更する際の応答性が向上します。JFIB-2300は最大解像度1 nmで、最大8メガピクセルの画像をキャプチャできます。フィールド放射砲は最大加速電圧30kVで、最大8マイクロメートルの厚さのサンプルを撮影することができます。直接検出ユニットは、最大8倍の倍率を可能にします。JFIB-2300には、遠隔操作、角度/画像解析、自動測定機など、使いやすさを高める便利な機能も多数あります。直感的なGUIにより、操作が簡単になり、さまざまな分析情報やツールにアクセスできます。要約すると、JEOL JFIB-2300 Field-Emission Scanning Electron Microscopeは、研究および産業用に設計された高度なFE-SEMです。高解像度イメージング機能、強力な電子ビームツール、さまざまな便利な機能を備えたJFIB-2300で、幅広いサンプルの鮮明で正確な画像を作成できます。JFIB-2300は、イメージング資産で高性能をお探しの方に理想的なマシンです。