中古 JEOL EX-16020 #293813064 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 293813064
Electron beam lithography system
System control (SYSP) module
Dynamic Memory Management (DMMR) module
Analog-to-Digital Converter (ADC) module
Laser Alignment and Measurement (LAMP) module
Digital Beam Vector Module (DBVM)
Detector system with digital mapping capabilities
Console interface
Vector scanning capability
Digital pattern generation
Ethernet port
Control cables
Connectors
Power supply unit.
JEOL EX-16020は、顕微鏡分野における高性能で先進的なイメージング機能で知られる最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。革新的な機能と高度な技術を備えたこのSEMは、さまざまな分野の研究者、科学者、エンジニアの要求に応えるように設計されています。EX-16020の主な強みの1つは、優れた画像解像度であり、ユーザーは優れたディテールと明瞭さでサンプルを視覚化することができます。高解像度の電子光学系を搭載したこのSEMは、低倍率から高倍率までの範囲を提供し、ユーザーはナノスケールでの画像を卓越した精度でキャプチャすることができます。ナノ粒子、生体組織、半導体材料など、複雑な表面特徴を持つサンプルの研究には欠かせません。JEOL EX-16020には、汎用性の高い電子源、典型的にはタングステンフィラメントまたは電界放出銃が装備されており、これはイメージングと分析のための集中電子ビームを生成します。電子ビームは、サンプル表面全体を正確に制御してスキャンすることができ、ユーザーはさまざまな角度と深さでサンプルを調査することができます。この柔軟性は、3Dイメージングや複雑なサンプル構造の特性評価に特に役立ちます。高解像度イメージングに加えて、EX-16020は、サンプルの組成や特性の理解を高める分析機能の範囲を提供しています。例えば、SEMにはエネルギー分散型X線分光法(EDS)検出器が搭載されており、その特徴的なX線放射に基づいてサンプル中に存在する元素を特定し、定量することができます。これにより、元素分析を行い、サンプル内の元素分布をマッピングし、マイクロスケールまたはナノスケールで化学相互作用を調査することができます。また、JEOL EX-16020には、走査透過電子顕微鏡(STEM)や電子後方散乱回折(EBSD)などの高度なイメージングモードが搭載されており、試料の形態、結晶構造、向きなどについてのさらなる洞察を提供します。これらの技術は、合金、セラミックス、複合材料などの複雑な微細構造を持つ材料を研究し、構造、組成、特性の関係を解明するために不可欠です。ユーザーインターフェイスと制御の面では、EX-16020は、ユーザーが楽器を効率的に操作し、簡単に高品質の画像を取得することができる直感的なソフトウェアを備えています。SEMには、自動化されたイメージングルーチン、画像処理ツール、およびデータ分析ソフトウェアが搭載されており、ワークフローを合理化し、結果の解釈を容易にします。さらに、SEMは、サンプルステージ、検出器、アクセサリなどの外部デバイスと統合して、その機能を拡張し、特定の実験要件に適応することができます。全体として、JEOL EX-16020は、優れた画像解像度、分析機能、ユーザーフレンドリーなインターフェースを組み合わせた最先端の走査型電子顕微鏡であり、さまざまな科学分野の高度な研究と分析を可能にします。このSEMは、ナノマテリアル、生物学的サンプル、半導体デバイスを研究するかどうかにかかわらず、新しい洞察を発見し、顕微鏡や材料科学の境界を押し上げるために必要なツールと柔軟性を提供します。
まだレビューはありません