中古 JEOL BZG-73WCST6H #9282405 を販売中

JEOL BZG-73WCST6Hは、市場の他のSEMと比較して優れた性能を有する最先端の走査型電子顕微鏡です。OneView Lense検出器と高性能SR検出器を内蔵しており、どちらも高度な画像キャプチャと解析機能で有名です。この装置は、電子ビームリソグラフィー、ナノリソグラフィー、微細加工などの用途に最適です。BZG-73WCST6Hのフィールドエミッションガン（FEG）ソースは、市場で最も先進的で強力なものの1つです。このFEGは、気晴らしを最小限に抑えて正確なイメージングを容易にするために、高電流密度、低ノイズフロア、および低ビーム不安定性を提供します。さらに、ビームブランキング機能を備えており、ユーザーはエミッタンス電流の相対分布を正確に測定および分析することができます。このような操作を迅速かつ正確に実行できるため、この装置は高度な材料分析に最適です。JEOL BZG-73WCST6Hでは、従来のコロイダルゴールドコーティング、蒸気相カーボンコーティング、凍結破砕まで、さまざまなサンプル調製工程を備えています。また、電子銃は充電検出器と組み合わせることができ、試料の局所電界特性を正確に解析することができます。BZG-73WCST6Hは、60kVのReFocusingガンレンズ装置により、優れた解像度を提供しています。このシステムはイメージプラットフォームと組み合わせて、信号対ノイズ比と画質を最適化します。また、高感度検出器を内蔵したEDSユニットを搭載しており、元素組成物の正確かつ正確な分析が可能です。ブライトフィールド検出器も付属しており、コントラストと被写界強化の深さを提供します。JEOL BZG-73WCST6Hには、SEMイメージングの効率と精度を最大限に高めるために設計されたソフトウェアスイートもあります。このマシンは、顕微鏡構造の3次元モデルを迅速かつ正確に構築するための包括的な3Dイメージングソフトウェアパッケージを備えています。また、トポグラフィースキャン、元素マッピング、粒子サイズ解析を容易にする高度な分析プログラムも含まれています。BZG-73WCST6H機器のすべての機能は、研究および産業用途の両方にとって優れた選択肢となります。その高度なFEGソース、幅広いサンプル準備段階、および強力な解析プログラムがすべて組み合わさり、優れたイメージング能力を求める人々にとって理想的な選択肢となります。