中古 JEOL BZG-71CSTSCLPL #9282273 を販売中

JEOL BZG-71CSTSCLPL走査型電子顕微鏡（SEM）は、硬質材料と軟質材料の高解像度イメージングおよび解析用に設計されています。この先進的な装置は、自動真空システムを使用してサンプルを観測用に準備し、背面散乱電子検出器を備えており、ユーザーは表面構造と内部構造の両方を見ることができます。BZG-71CSTSCLPLにまた統合された環境の部屋があり、ユーザーが管理された大気および温度条件の下でサンプルを検査することを可能にします。このユニットには、JEOL BZG-71CSTSCLPLが10ナノメートル以上の解像度に達することを可能にするフィールドエミッションガン（FEG）が装備されており、優れた画像ディテールと明瞭さを提供します。この高解像度と強力なデジタル信号処理（DSP）技術を組み合わせることで、薄くて繊細なサンプルを撮影することができます。BZG-71CSTSCLPLにはステージとXYZモーションコントロールも自動化されており、同じサンプルを複数方向に再現することができます。機能面では、JEOL BZG-71CSTSCLPLはさまざまなイメージングおよび解析モードを提供しています。このSEMは、3D ZYXベースの自動イメージングシステムを使用して、2Dイメージングと3D再構築の両方が可能です。元素分析のために、SEMには陽子補助X線検出器とエネルギー分散X線分光法（EDS）検出器が組み込まれており、サンプルの化学組成を調べることができます。BZG-71CSTSCLPLは印象的でユーザーフレンドリーなSEMで、エンジニアリング、地質学、材料科学、医学研究などのさまざまなアプリケーションでの使用に最適です。この高効率SEMは、多くの種類の材料のイメージングと分析に最適な機能の印象的な組み合わせを提供します。JEOL BZG-71CSTSCLPLは、高度なイメージング機能と自動設計により、多様で要求の厳しいイメージングニーズに最適なソリューションです。