中古 JEOL BZG-70CTSCLPL #9282274 を販売中

JEOL BZG-70CTSCLPLは、材料科学や工学の応用に最適な走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、メンテナンス要件の低いコンパクトでユーザーフレンドリーな設計で、超高解像度イメージングを備えています。BZG-70CTSCLPLは、高輝度フィラメントレスフィールドエミッションガン（FEG）と超低振動サンプルチャンバーを組み合わせ、優れたイメージングを実現しています。この構成は、超高解像度の画像を生成しながら電子ビームの発散を最小限に抑えます。可変圧力LEDサンプルチャンバーは、電子ビーム電流を広範囲にわたって変化させることができ、サンプルの特徴を正確にマッピングすることができます。JEOL BZG-70CTSCLPLは、広い視野と高い総合性能を備えています。12。7mmの広い作動距離と0。8nmの画像解像度を持ち、地形と化学組成の両方で小さな特徴を撮影するのに最適です。検出ノイズ比が低く、1000：1の最小ダイナミックレンジを備えているため、サンプルの小さな濃度を検出することができます。BZG-70CTSCLPLは、生体材料、セラミックス、ポリマー、ナノ材料などの繊細なサンプルのイメージングに最適です。また、3D再構築にも適しており、データを高次のファイル形式に転送することができます。高いコントラストと低ノイズレベルの高精細イメージングが可能です。JEOL BZG-70CTSCLPLは、自動化された環境で動作するように設計されています。サンプルステージを自動化して、サンプル移動や再現可能なロケーションポイントの補償を素早く実現できます。このシステムは、スキャン中にイーサネットまたはバスインターフェイスを介して外部コンピュータに操作することができ、異なる操作を同時に完了することができます。BZG-70CTSCLPLは、材料を精密に分析するためのユーザーフレンドリーな機能を備えた信頼性の高い走査型電子顕微鏡です。メンテナンス要件が低く、ダイナミックレンジが広く、真空モードが低いため、優れたイメージング機能を必要とするアプリケーションに最適です。