中古 JEOL BX-MWC1002T93 #9282256 を販売中

JEOL BX-MWC1002T93は、化学および材料研究用途向けの高品質のオールインワン機器を提供するデュアルビームスキャン電子顕微鏡（SEM）です。その高解像度イメージング機能は、様々な材料の構造の詳細な画像を研究者に提供します。最大150,000xの倍率範囲を持ち、微細なサンプルの表示に最適です。その高性能な特徴は、優れたサンプル操作のための磁気浮上ステージを備えた反転電子光学カラム、最適なイメージング条件を作成するための可変圧力スキャン機能、および最大0。4ナノメートルの解像度を含みます。自動化機能は、幅広い材料からの任意のサンプルのイメージング条件を最適化することにより、一貫した結果を保証するのに役立ちます。BX-MWC1002T93は、サンプルの元素分析のための高度なX線エネルギー分散（XEDS）システムを備えています。このユニットは、ユーザーがサンプルの元素組成を特定して定量化するだけでなく、異なる倍率でサンプルの構造に関する詳細な情報を得ることができます。SEMはまた、ユーザーが同じ視野内のサンプルのさまざまな領域に焦点を当てることができる高出力の電子光学系を統合しており、複雑な特徴や構造をイメージングするのに理想的な選択肢となっています。また、特許取得済みのナノフォーカスツールを採用しており、画質を劣化させることなく高倍率イメージングが可能です。このアセットはインストールが簡単でユーザーフレンドリーであり、個々のニーズに応じてカスタマイズするさまざまなイメージングおよび分析ツールが含まれています。さらに、スマートで自動化されたサンプル分析が含まれており、困難なサンプルでも迅速かつ簡単にデータを取得できます。全体的に、JEOL BX-MWC1002T93は、材料とその構造の詳細な研究のための理想的な走査電子顕微鏡です。その特徴は、材料や化学の研究用途だけでなく、生物学的および産業的用途にも理想的です。高解像度イメージング機能により、異なる倍率で材料の構造を観察することができ、その高度な解析機能により、微小およびナノスコープのレベルの両方の詳細な結果が得られます。