中古 JEOL 845A #9157332 を販売中

JEOL 845Aは、多種多様な材料の高解像度イメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。エネルギー分散型X線検出器（EDS）と高分解能二次電子検出器（SE）を使用して、優れたイメージングおよび分析機能を提供します。845AなどのSEMは、化学組成、粒度、表面地形、結晶相など、さまざまな情報を得ることができます。JEOL 845Aは、最大ビーム圧力3nAのタングステンフィラメントを使用し、非常に高解像度の画像処理を可能にします。その高圧ビームスキャンシステムは、迅速な画像取得を可能にし、試料ホルダーの調整可能な作業距離は、大きなサンプルのより柔軟性を可能にします。845Aには、試料の表面微小地形を検出・マッピングするアルファ逆散乱電子検出器（BSE）が搭載されており、その組成に基づいて材料を区別することができます。JEOL 845Aには、サンプルの元素分析を可能にするオプションのエネルギー分散X線検出器（EDS）が付属しています。低真空動作により、他のSEMよりも高い倍率で非導電性材料を分析することができます。EDS検出器は、サンプル成分の組成と分布に関する追加情報を提供し、位相分数の決定、微量元素の特定、粒子サイズの分布の決定に使用できます。845Aは、高速な信号処理と画像取得を提供し、非常に詳細な画像処理を必要とするサンプルを操作するのに適しています。自動化されたアライメントとアライメント補正システムを備えており、手動で介入することなくサンプルを正確に集中させることができる強力な倍率コントローラが標準装備されています。さらに、エンドユーザーは、電圧や電流などの他のパラメータを調整して、画質と信号強度を最適化することができます。全体的に、JEOL 845Aは、高解像度イメージングと様々なサンプル材料の分析のための優れた選択肢となる機能の広いセットを提供しています。オプションのEDS検出器で様々なサンプル情報をキャプチャできるため、詳細な解析結果を求める研究者にとって強力なツールとなります。