中古 JEOL 840 #9071898 を販売中

JEOL 840
製造業者
JEOL
モデル
840
ID: 9071898
Scanning electron microscope, (SEM).
JEOL 840は、汎用性の高い用途向けに設計された走査型電子顕微鏡(SEM)で、様々な分野の高解像度イメージングと解析を提供します。コンパクトなデザイン、最先端の光学系、先進的な機能により、超高倍率の小さな粒子の優れた画像を製造しています。840は、高真空から低真空まで、さまざまなレベルの圧力でサンプルをスキャンすることができる可変圧力チャンバー設計を備えており、超高速の処理時間を可能にします。この機能により、ラボ内の複数のシステムが不要になり、運用コストが削減されます。SEMには、高度な二次電子および後方散乱検出器が搭載されており、高解像度のイメージングと詳細な分析機能を提供します。また、光学系は高感度の逆散乱電子検出器で設計されており、従来のSEMよりも最大2。5オーダーの優れた画像性能を提供します。汎用性の高い設計には、元素解析のためにEDS(エネルギー分散分光法)またはX線マッピングからスペクトルを取得して分析する機能もあります。イメージングと解析モードをすばやく切り替えることができるため、ユーザーはリアルタイムでデータをすばやく表示および処理できます。ハイエンドのデジタルオプティクスと人間工学に基づいた設計により、SEM画像の取得に要する時間が短縮され、サンプル準備が高速化されます。このシステムは、直感的なタッチスクリーンユーザーインターフェイスで簡単に操作および監視でき、分析プロセスの簡単で有益な概要を提供します。また、レーザーオートフォーカス機能を搭載しており、フォーカスを素早く正確に行うことができます。この機能により、画像データ取得の準備に要する時間が短縮されます。また、JEOL 840は高解像度の動画を作成することができ、アナリストは複数のフレームをキャプチャし、サンプルをアニメーション化して1つのキャプチャから3Dデータを生成することができます。合計すると、840上の高度な機能、ハイエンド光学および直感的なインターフェイスは、実験室の研究と産業品質保証環境の両方で動作するための理想的な機器になります。アナリストは高解像度の画像や分析データを迅速かつ効率的に収集できるため、SEMはパフォーマンスを最大化する上で非常に貴重な資産となります。
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