中古 JEOL 840 #9068026 を販売中

JEOL 840走査型電子顕微鏡（SEM）は、高性能で信頼性の高いSEMの1つです。840スキャン電子顕微鏡には、科学研究のための強力で汎用性の高いツールになる多くの機能があります。まず、JEOL 840 SEM装置は、コールドフィールド放射とセシウムベースの収差補正器を組み合わせて、比類のないサブナノメートル分解能を実現します。これにより、平均解像度が0。5nmで、サンプルの実際のサイズの最大10万倍の倍率を得ることができます。840システムには、非常に精度の高い非常に小さな要素の濃度を検出することができる高感度のエネルギー分散X線 （EDX）ユニットが装備されています。この機能は、高い信号対ノイズ比のため、化学分析やエレメントマッピングに特に役立ちます。SEMはまた、標本操作のための多様な機能を持っています。これには、超安定化されたプラットフォーム、高速スキャン速度（最大5000フレーム/秒）、SkelVac真空マシン、および角度固有のイメージングのための標本を傾ける機能が含まれます。最後に、JEOL 840は、画像処理とパターン処理の両方のための高度な自動取得および分析ソフトウェアとも互換性があります。これには、3D再構築や統計画像解析などの高度な画像強化アルゴリズムが含まれます。840 SEMツールの高度な機能により、幅広いアプリケーションに対応する強力で汎用性の高いツールを必要とする科学者に最適です。材料科学、半導体デバイス製造、ライフサイエンス分析、法医学調査などがあります。JEOL 840 Scanning Electron Microscopeは、優れた解像度、スピード、使いやすさを備え、さまざまな研究および産業ニーズに対応する信頼性の高い強力な選択肢です。