中古 JEOL 7200 #9274854 を販売中

JEOL 7200
製造業者
JEOL
モデル
7200
ID: 9274854
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With EDS system.
JEOL 7200は走査型電子顕微鏡(SEM)で、生物学、ポリマー、鉱物、材料研究などの幅広い分析・研究用途でよく使用されています。SEMは3つの異なる動作モードで動作します。二次電子イメージング(SEI)、逆散乱電子イメージング(BEI)およびエネルギー分散X線検出(EDX)。7200は、さらにサンプルの組成物のマッピングと元素分析を可能にする標本の優れたイメージングを提供します。SEMには、サンプルを処理するための自動真空装置と、より良いイメージングのための高い電子ビーム電流分解能があります。また、統合された環境および分析システムは、元素マイクロアナリシスやガスクロマトグラフィーなどの優れたクロマトグラフィー機能を提供します。JEOL 7200にいろいろな標本のために適している広い決断の範囲があります;自動画像サンプリングユニットを使用し、自動的にスキャン領域と倍率を設定する検出器システムを備えています。SEMはまた、フィールド放出銃とイメージングエレクトロニクスを備えています。超高精度電子ガンエミッタ、高安定性スキャニングデフレクタを搭載し、電子ビーム制御用のデジタルエレクトロニクスと組み合わされています。7200 SEIモードを使用して、標本の真の色画像をキャプチャできます。BEIモードは、試料の表面粗さ、気孔率、構造テクスチャを測定するために使用できます。EDXモードでは、サンプルの元素解析が可能です。統合されたガスクロマトグラフィーマシンは、さらに研究用途に優れた分析機能を提供します。JEOL 7200は、研究用途に優れたイメージングおよび分析機能を提供します。また、高解像度の電子ビーム表示ツール、最大150kVで動作可能な電子光学、精密な3軸ナノメートルステージを備えています。SEMは、微細構造における元素分布の研究、有機・無機元素解析、物質サンプル表面の研究など、幅広い科学研究用途に使用されています。
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