中古 JEOL 6701F #9077186 を販売中

JEOL 6701Fは、様々なイメージング用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。電界放射型冷陰極電子銃を搭載しており、非常に集中した電子ビームを生成し、高速でラスターパターンで標本をスキャンします。電子のビームが試料と相互作用し、試料表面から生成された二次電子が収集され、試料のデジタル画像が形成されます。このSEMは最大加速電圧30kVを備えているため、非常に薄い試料や軽元素でも高解像度のイメージングが可能です。ビーム発散はわずか1 mradで、最大1Åの非常に高い解像度を提供します。また、最大50mradまでの大型集光角度により、被写界画像や被写界深度の精度も向上しています。6701Fによって生成される電子ビームは、フォーカスだけでなく、光学ビームスタビライザー（OBS）を使用して安定化されています。このシステムは、画像のシャープさと解像度を確保するために安定したビーム径と断面を維持します。また、さまざまな高度なイメージングモードを備えており、要素特性評価、eビームリソグラフィー、無料および接触モードのイメージングなどの活動を可能にします。そのオメガスキャン自動スキャンシステム（ASS）は、地形画像だけでなく、市場で最高の解像度を提供するナノオミットの迅速な取得を容易にします。また、JEOL 6701Fには自動サンプル操作も含まれています。サンプルハンドリングシステムは、ロード、オリエンテーション、アライメント、フォーカシングなどのルーチンアクションを介してサンプルを自動的に実行します。オートスタンバイ機能により、作業時間がさらに短縮されます。これらの特徴はすべて、6701Fの優れた性能とともに、材料科学やマイクロエレクトロニクスなどの多様な分野の研究者にとって理想的なSEMとなっています。