中古 JEOL 6600F #9139649 を販売中

JEOL 6600F
製造業者
JEOL
モデル
6600F
ID: 9139649
ウェーハサイズ: 6"
FE scanning electron microscope (SEM), 6".
JEOL 6600Fは、さまざまな材料の観察、イメージング、分析のために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。SEMは、従来の光学顕微鏡照明を必要とせずに、表面の高分解能解析とイメージングを可能にします。このモデルは、0。4nmまでのサブミクロン分解能イメージング、デジタルX線及びEDS機能、汎用性の高いサンプルステージ、サンプルの読み込みと観察、および統合されたデジタル電子光学機器およびチャンバーなど、さまざまな機能を提供します。デジタル電子光学システムは、優れたディテールと構成性を提供するように設計されています。電子ビームの正確なアライメントを可能にし、ダイナミックな焦点と究極の被写界深度を備えています。さらに、通常のユーザーインターフェイスを強化することで使いやすく、倍率、スキャン速度などのパラメータを簡単に調整して最適な画像結果を得ることができます。JEOL 6600 FのSEMチャンバーは、さまざまなサンプルサイズ、形状、材料に対応するように設計されています。自動化されたサンプルローディングと観察システムは効率的な動作を実現し、サンプルステージは精密な調整で複数の軸を移動することができます。SEMチャンバーは、ガス制御機能を内蔵しており、静的および熱的不規則性のリスクを最小限に抑えてサンプルを変化させるための有効な環境となります。6600Fは、さまざまなデジタルイメージングおよび分析機能も提供しています。X線およびEDSソフトウェアは、元素マッピングや自動回折解析などのさまざまなアプリケーションで、大規模で定量的な画像データを簡単に取得できるように設計されています。デジタル画像処理および解析ユニットは、さまざまなサンプル表面の正確なイメージング、自動画像作成、画像の強化など、さまざまな機能を提供します。結論として、6600 Fは高分解能イメージングと様々な表面の分析のために設計された高度な走査型電子顕微鏡です。デジタルエレクトロンオプティクス、多彩なサンプルステージ、統合ガス制御、さまざまなデジタルイメージングおよび分析機能を備えており、さまざまな材料の詳細な画像および定量データを取得できます。
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