中古 JEOL 6500F #9234597 を販売中

JEOL 6500F Scanning Electron Microscope （SEM）は、電子顕微鏡の分野で最も先進的な装置の1つです。これは、電子の集束ビームを使用して、サンプルの表面特性と地形の詳細な画像を生成します。SEMは、1ナノメートルから100マイクロメートルまでの高解像度のサンプル画像を提供することができます。6500Fはショットキーフィールドエミッションガンを搭載しており、超高真空動作と優れたビーム安定性を実現しています。この銃は、一定のビーム電流を維持することにより、高電流電子放出能力を提供することも可能です。また、高速スキャンと画像取得を可能にする高度な高速スキャンシステムを備えています。また、JEOL 6500Fには、二次電子（SE）検出器、低真空背面散乱電子（BSE）検出器、電子銃検出器（EGD）など、さまざまな用途に最適な幅広い検出器が搭載されています。これにより、サンプルからさまざまな種類の電子画像や分光データを収集することができます。装置に搭載された高真空システムにより、サンプル表面へのビーム損傷を最小限に抑えます。この電子顕微鏡は、画像を比較・対照したり、2次元と3次元の両方で定量的な分析を得るために使用できる幅広い画像解析ソフトウェアを備えています。従来のイメージングモードに加えて、インレンズ光学イメージング、カソドルミネッセンス、位相コントラストイメージング、電子ビーム誘導静電コントラストイメージングなどの独自のイメージング機能も備えています。6500Fは、多くのアプリケーションのニーズを満たすために、アクセサリーや周辺機器の幅広いコレクションが装備されています。これには、XYZ自動ステージ、画像操作モジュール、環境チャンバー、真空システム、サンプル前処理装置が含まれます。また、自動化されたサンプル処理のためのロボットサンプル操作システムと、より高い圧力でサンプルを検査するための低圧浸漬セルを備えています。JEOL 6500Fは、有機材料や非導電材料の研究からナノデバイスの特性評価まで、幅広い用途に対応できる非常に汎用性の高い装置です。このSEMは、優れた性能とイメージングと分析のための汎用性を提供します。