中古 JEOL 6400FV #9071902 を販売中

JEOL 6400FV Scanning Electron Microscope （SEM）は、多くの機能と機能を備えた先進的な顕微鏡です。6400FVは、フォレンジックから材料科学まで、さまざまな分野の研究用に設計された先進的な機器です。JEOL 6400FVには、二次電子イメージングと後方散乱電子イメージングが搭載されており、様々な標本に対して高分解能を実現しています。また、標準および可変圧力動作用に設計されており、4クアドラントのバックスキャッタ検出器を備えており、特性評価機能を強化しています。さらに、試料チャンバーには、さまざまなSEMアプリケーションのための複数の傾斜角度と試料境界が装備されています。6400FVには新しいEDS （Energy Dispersive Spectrometry）検出器があり、アクティブ領域が大きくカウント率が高いため、より良いデータ品質を提供します。また、EDSデータ取得に必要な時間を短縮し、スループットを向上させる「固定ウィンドウ」領域も備えています。さらに、ユニットのセットアップを簡素化する高度な自動化およびコンピュータ検証システムを提供します。JEOL 6400FVには、デジタルカメラとコンピュータ制御のデータ収集・解析ソフトがあります。このカメラは、最大5,120 x 3,840ピクセルの解像度で16ビットの色深度で画像を提供し、色と詳細のフルレンジを提供します。コンピュータ制御ソフトウェアは、画像を処理し、任意のコンピュータフォーマットに保存することができます。6400FVのイメージング機能は、最大10-2 mtorrの可変チャンバー圧力によってさらに強化されます。また、JEOL 6400FVは、薄膜でサンプルをコーティングするための蒸発器や、材料を堆積するために動作するように設計されています。高度なマシンはまた、低背景イメージングに最適な高真空モードを備えています。6400FVは、高度な研究のための機能の広い範囲を提供する高度なツールです。電子イメージングと高度なオートメーション機能により、材料特性評価、フォレンジック調査、薄膜蒸着など、さまざまなタスクを達成できます。さらに、可変圧力、デジタルカメラ、コンピュータ制御ソフトウェアはすべて組み合わせて、さまざまなアプリケーションに最適な高度なSEMを作成します。