中古 JEOL 5600 #9157311 を販売中

JEOL 5600は、高い分解力により材料の表面形態や微細構造を調べるために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。顕微鏡は、低導電率のサンプルに最適化された単色タングステンフィラメント源が装備されています。最大加速電圧は30kVで、作動距離は4mmに制限されています。5600 SEMはまた、高解像度イメージングのための0。8nmの小さなスポットサイズを持っています。エネルギー分散X線 （EDX）解析用のEverhart-Thornley （ET）検出器と、画像取得用の二次電子（SE）検出器を備えています。4mm/mradの解像度で最大230nmの視野を持つこの顕微鏡は、無機および有機材料の高分解能イメージングおよび分析に使用できます。JEOL 5600は、トランジスタ、ダイオード、C-MOS回路などの半導体デバイス向けに定量的な画像解析を提供するよう設計されています。SEMは、EDX検出器を使用して元素分析を行うこともでき、200を超える原子質量数の元素までのサンプル内の元素の材料組成と化学状態の正確なマッピングと定量を提供します。また、5600には透過電子顕微鏡（TEM）用の一連の検出器が搭載されており、薄膜の厚さを測定し、多結晶材料の粒度を測定することができます。さらに、電子ビームを利用してサンプルを真空中で最大1000˚Cまで加熱する抵抗加熱システムの助けを借りて、現場での溶融およびアニーリング処理が可能です。さらに、デジタル画像処理技術とコンピュータ制御システムを採用し、高速なデータ処理と高精度な画像再構築を可能にします。また、デジタル信号プロセッサ（DSP）や高速データ収集用のパラレルポートなどのオプションのアクセサリも備えています。全体的に5600は有機試料や無機試料の微細構造解析が可能な強力な走査型電子顕微鏡です。高解像度イメージング、EDX解析、およびTEM機能により、汎用性と高度なSEMを実現し、科学的および産業的研究において高い信頼性と正確性を備えています。