中古 JEOL 5310-LV #293600950 を販売中
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JEOL 5310-LVは、サンプルの高解像度画像を生成するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高エネルギー電子ビームを利用して、サイズや形状、元素組成、材料微細構造など、サンプルの表面特性に関する詳細な情報を得ることができます。JEOL 5310LVには大きなチャンバーがあり、ユーザーにとって優れた作業環境を提供します。このチャンバーには拡散ポンプ式の高真空システムが装備されており、画像の鮮明性を向上させ、eビーム照射損傷を低減するための非常に安定した環境を確保しています。このチャンバーはまた、低温ステージを備えており、低温でサンプルを分析することができます。低温解析により、サンプルの完全性が維持され、追加の画像詳細が明らかになります。閉じたチャンバー設計により、サンプル汚染を最小限に抑えながら、サンプルを回転させることなく客観的な表面全体を観察することができます。5310-LVは200 kVの電子ビームを使用し、0。7〜200〜mの解像度の間の画像を生成するためのレンズの選択μ提供しています。この非常に微調整が可能な電子ビームを使用すると、単軸/二重軸傾斜、低角度、二次および後方散乱電子イメージング、X線マイクロアナリシスなどのさまざまなイメージング技術でサンプルを視覚化することができます。5310LVは、サンプルから化学的および形態学的情報を得るために、幅広い検出器を備えています。JEOL 5310-LVは使いやすいSEMです。iOS、 Windows、 Android対応のイメージングソフトウェアを搭載し、直感的なアシスタンスシステムを備えたシンプルなユーザーインターフェイスを提供しています。明るさやコントラストなどのイメージングパラメータの選択や調整、フィルタ、検出電流、解像度の設定が簡単に行えます。JEOL 5310LVは、優れた性能、高解像度イメージング、信頼性の高い操作を必要とする学術界や業界の専門家に最適です。その洗練された設計と優れた性能により、5310-LVは高分子、セラミック、半導体材料の研究など、幅広い用途に理想的なツールとなります。
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