中古 JEOL 35 #126386 を販売中

JEOL 35は、広範囲のサンプルの高精度イメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。広い視野、被写界深度、解像度の性能を備えており、元のサイズの2000倍まで拡大することができます。堅牢な設計により、金属、セラミックス、ポリマー、有機物など、さまざまな材料のサンプルを信頼性が高く、理想的です。35は、迅速なサンプルイメージングと分析機能を提供する低真空モードを備えています。フィールドエミッションガンシステムを搭載し、0。5〜5ナノアンプの高一次ビーム電流で正確なサンプルサイズ制御が可能です。これにより、視野と解像度を最大化するためのさまざまな倍率でのイメージングが可能になります。SEMには、二次電子検出器や背面散乱電子検出器などの多種多様な検出器システムが搭載されており、画像コントラストの向上と焦点深度の向上を図っています。JEOL 35は、サンプルの正確な位置決めとサンプルのさまざまな領域への正確なナビゲーションを可能にする自動ステージシステムで動作します。ステージは最大280mm x 280mmの可動範囲を提供します。また、最大800mm×800mmの大型試料室を備えており、大型試料のイメージングが可能です。SEMは、検出器と電子光学系のデータを組み合わせて、サンプルのデジタル画像を作成し、さらなる分析を行う高速デジタルイメージングシステムを搭載しています。35には、画像の強化、操作、分析のための革新的なソフトウェアも含まれています。これらは、画像セグメンテーション、スペクトル分析、ラインプロファイル統合などの機能を提供する統合された機能です。このソフトウェアを使用すると、正確な測定を行い、データを分析し、3Dモデルを作成することができます。JEOL 35は、ユーザーが正確な測定を行い、複雑なデータを分析し、画像を操作してサンプルから最大限の情報を抽出できるように設計されています。その汎用性の高い設計、堅牢性、高性能機能により、材料科学、鉱物学、地質学などのさまざまな分野に最適なイメージングツールです。