中古 JEOL 2100 #9016184 を販売中

走査型電子顕微鏡（SEM： Scanning electron microscopy）は、試料の表面の特徴を高解像度で画像化する技術です。JEOL 2100は、その組成、形態、構造を決定するために様々なサンプルを分析するために使用されるSEM機器の一種です。2100は、非常に安定で明るい電子ビームを生成するために使用される場の放出電子源を備えています。このビームは、サンプルホルダーに取り付けられたサンプルに向けられて分析されます。電子が試料と相互作用するにつれて、それらは様々な方法で散乱される。相互作用のいくつかは、サンプルの3次元画像を生成するために収集し、使用することができる追加の電子の放出になります。電子ビームの電圧と周囲の大気の圧力を調整して、画像のコントラストの異なるレベルを達成することができます。JEOL 2100は、試料からの電子の放出を検出するために使用されるインレンズ二次電子検出器も備えています。これは、顕微鏡の柱に配置されている取り外し可能なシンチレータで行われます。二次電子が放出されると、シンチレータを通過し、そこで光に変換されます。光は電子乗算器に送られ、信号を増幅して顕微鏡の制御ユニットに送信します。コントロールユニットは信号を処理し、サンプルの1つ以上の画像を作成します。2100は、最大2 nmの解像度で画像を生成することができます。これにより、個々の細胞、オルガネラ、タンパク質などの非常に小さな特徴を可視化することができます。さらに、この顕微鏡を使用して有機材料と無機材料の両方を分析することができます。JEOL 2100は、学術研究から産業品質管理まで、さまざまな用途で使用される先進的なSEM機器です。顕微鏡の高解像度、汎用性、使いやすさは、サンプル分析に関わるすべての人にとって貴重なツールです。