中古 JEOL 2011 #9224590 を販売中

JEOL 2011走査型電子顕微鏡（SEM）は、試料の詳細な検査と超高精度の表面特徴解析を可能にする高解像度イメージングツールです。3次元の特徴を最適に画像化するために、解像度が1。0nm以上、被写界深度が高い最大500,000xの倍率を生成することができます。この顕微鏡の特徴の組合せは、良好な被験者の低帯域幅イメージングから産業部品の高解像度検査まで、幅広い用途に最適です。この顕微鏡は、サンプル上で焦点電子ビームをスキャンすることによって動作し、その結果、二次電子、後方散乱、またはX線放射が得られます。結果として得られた信号は増幅され、蛍光体スクリーンに投影されて画像が生成されます。電子ビームの強度と位置は、異なる特徴を強調したり、領域内の異なるサンプル特性を観察するために調整することができます。2011年はイメージング機能に加えて、さまざまな分析機能も提供しています。これらには、表面フィーチャーの定量化、組成解析、形態学、結晶性などがある。これらの解析機能に加えて、サンプル内の段取り機能の検査や自動解析ルーチンなど、操作や解析を容易にするための多くの機能を提供します。JEOL 2011は、幅広いサンプルの高解像度検査と分析を可能にするさまざまな機能を備えた汎用性の高いイメージングおよび分析ツールです。その特徴の組み合わせは、表面特性とサンプルの基盤構造との間の関係の使用可能で再現可能で有意義な画像を生成します。2011年は、豊富な機能を備えており、幅広い研究および産業用途において貴重な資産となる可能性があります。