中古 JEOL 2010F #9283823 を販売中

JEOL 2010Fは、さまざまな業界の幅広いアプリケーションに最適なユーザー機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置にはさまざまな高度な機能が装備されており、経験豊富なユーザーと初心者のユーザーの両方が、観察のためのサンプルを迅速かつ簡単に準備することができます。このデバイスはチャンバーサイズが大きく、直径12cmまでのより大きなサンプルを観察することができます。高輝度のFEGを搭載し、フォーカス、コントラスト、解像度に優れています。その非磁性高速スイッチングポレピース技術は、高いレベルの性能を提供し、明確な画像と高いステレオ角度を生成します。このデバイスには、二次および後方散乱電子検出器を含む包括的な検出器が含まれています。その4つの象限反散電子検出器は、高解像度の画像を生成し、小さな物体を測定するために使用することができます。また、広い立体角度を持つ二次電子検出器を備えており、優れた効率と感度を提供します。このシステムはまた、複数の分析機能を備えており、多数のアプリケーションに適しています。エネルギー分散型X線検出器（EDX）は、試料の組成や厚さなどの情報を提供し、試料中に存在する元素を特定することができます。EBSD（電子後方散乱回折）検出器は、高度な結晶構造解析に最適で、個々の粒子や薄膜の原子構造、向き、ひずみを解析することができます。JEOL 2010 Fは、多くの自動化された機能を提供しており、非常にユーザーフレンドリーです。その自動機能は、ユーザーの時間と労力を節約し、迅速に実験を設定するために使用することができます。また、スキャン電子ビーム制御を備えており、ユーザーはサンプルを正確に移動またはスキャンすることができます。最後に、その自動化されたデジタルエレクトロニクスは優れた中間分解能を提供します。2010Fは、幅広い用途に適した優れた走査型電子顕微鏡です。洗練された機能と自動化された機能により、プロと初心者の両方のユーザーにとって理想的なツールです。