中古 JEOL 2010 #9157313 を販売中

JEOL 2010は、広範囲の物質サンプルのイメージングおよび分析用に設計された高性能スイープ電子顕微鏡（SEM）です。10kVまでの加速電子ビームによる高分解能イメージングを提供し、最大50nmの解像度で超低電圧を実現します。それは印象的な4つの独立して調節可能なスキャン段階、およびイメージ投射および標本の操作の間に望ましい温度を維持する冷却の温度調節器を特色にします。2010年には、ADF （Scanning Annular Dark Field）検出器と独自のフォーカスドリフト補正装置を内蔵しており、ボケのないイメージングと倍率の向上を実現しています。また、ADFシステムは、特定の特徴のイメージングの精度を高めるために、様々な深さの標本地形に関する情報を提供します。独自のEDS （Energy-dispersive X-ray spectroscopy）検出器は、標本の元素組成と形態を正確に分析することができます。JEOL 2010には、金または他の金属の極薄層でサンプルをコーティングするための専用の加熱/グロー放電モジュールも搭載しています。このコーティングは、サンプルの可視性を高め、高コントラスト画像を提供することができます。このモジュールには、統合された加熱プレートと温度モニターが装備されており、望ましい最終イメージング結果を得るために、フィルム構造を完全に微調整できます。その印象的な機能に加えて、2010は、より簡単なナビゲーションと情報への迅速なアクセスのためのユーザーフレンドリーなコントロールと直感的なメニューを提供しています。また、将来の参照と比較のために最大10個のサンプル画像を保存できる自動画像取得ユニットも備えています。この機械はコンピュータ制御された標本のローディングシステムと改善された正確さおよび速度のために統合されます。全体として、JEOL 2010は、高解像度のイメージングおよび解析機能、直感的な制御、ユーザーフレンドリーなメニュー、およびすべてのSEMタスクで優れた性能を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。多目的な器械は研究および産業設定の適用にとって理想的で、データ収集および分析の質そして正確さを非常に改善できます。