中古 JEOL 2000EX II #9045377 を販売中

JEOL 2000EX II Scanning Electron Microscope （SEM）は、様々なサンプルタイプの高解像度イメージングと解析を可能にする汎用性の高い高性能装置です。JEOL 2000EXII SEMは、1ナノメートル以上の空間分解能を持つ電子ビームを生成する電子カラムを採用しています。このビームはサンプルの表面に向けられ、それを通過した後に収集されます。収集された情報は、サンプルのナノスケール機能のコンピュータ生成イメージを構築するために使用されます。2000 EX IIは、衝突チャンバーを備えたイメージングチャンバーを提供し、サンプルを通過する電子を捕捉することができます。この衝突チャンバーは、半導体、結晶、多結晶材料、セラミックス、金属などの無機材料のイメージングに適しています。そのナノスケール分解能は、サンプルの詳細の微細な形態の明確な画像を提供します。2000EXIIはまた、分析機能の広い範囲を提供しています。この装置のエネルギー分散型X線分光計（EDS）は、サンプル内の元素とその濃度を識別し、貴重な元素分析を提供します。また、EDSにはデュアル動作電圧が搭載されており、原子分解能を持つサンプルの高分解能解析が可能です。EDAX背面散乱電子検出器（BED）を使用すると、ユーザーは結晶性、位相組成および酸化状態を測定することができます。JEOL 2000 EX IIは高感度で効率的で、優れたイメージングと解析結果をユーザーに提供します。高解像度イメージングと高度な分析機能により、多くの研究および材料特性評価アプリケーションにおいて非常に貴重なツールとなります。汎用性、精度、性能を兼ね備えた2000EX IIは、半導体工学から材料研究まで、さまざまな分野のユーザーにとって理想的な選択肢です。