中古 JEOL 100C #126353 を販売中

JEOL 100C Scanning Electron Microscope （SEM）は、ライフサイエンスからマテリアルエンジニアリングまで幅広い用途に使用される強力な分析ツールです。高度な電子光学、複数の検出器、カスタマイズされたソフトウェアパッケージを使用して、高解像度のイメージング、元素分析、化学分析を行います。100Cは、高真空対応のチャンバー、新電子銃、電動ステージを備えており、幅広い研究の可能性を提供します。JEOL 100Cは、2次電子イメージングにおいて最大10nmの解像度、および逆散乱電子イメージングモードにおいて最大5nmの解像度を提供します。電子銃の最大作動距離は150mm、最大加速電圧は30KVです。さらに、低真空運転を可能にする10-3Paまでの選択可能なチャンバー圧力範囲を備えています。6nm分解能の高真空動作は、表面粗さの低いサンプルの高解像度イメージングに最適です。100Cは、イメージングと解析モードの両方で利用できる幅広い検出器を備えています。これらには、元素および化学分析を提供する大型のSTEM検出器と、コントラスト強化用のイメージフィルタ、サンプル分析用のバックスキャッタ検出器が含まれます。さらに、二次電子検出器、EDX検出器、充電検出器を備えており、総合的な解析が可能です。100Cのカスタマイズされた制御ソフトウェアスイートは、幅広い機能を提供します。これらには、使いやすい極性ナビゲーションシステムを備えたナビゲーション制御、コントラスト強化のためのイメージフィルタ制御、自動イメージングと解析のためのフルステージプログラマビリティが含まれます。さらに、JEOL 100Cは、断面解析などのサンプル調製にも対応しており、特殊アプリケーション向けの統合特長ライブラリを備えています。結論として、100Cは高分解能イメージングと広範囲のサンプルの高度な分析を提供する高度な走査電子顕微鏡です。電動ステージ、高真空対応チャンバー、幅広い検出器を備え、多くのアプリケーションに最適なツールです。最後に、JEOL 100Cの統合ソフトウェアパッケージは、イメージングおよび分析タスクの一貫したタイムリーな実行を保証します。